[发明专利]集成电路测试机连接性检测系统

说明书

本发明公开了一种集成电路测试机连接性检测系统，包括接口电路，内部设置有多个连接测试机通道的测试电路，所述测试电路包括：保护电路，用于将待测电路的电压钳制在适当的电压范围内；待测电路，用于接入连接性测试的标准二极管；开路比较电路，用于开路时的电压进行比较及信号灯显示；短路比较电路，用于短路时的电压比较及信号灯显示；导通比较电路，用于导通时的电压比较及信号灯显示，通过本发明可实现批量对集成电路的测试，测试更加灵活方便，可用于集成电路测试中。

技术领域

本发明涉及一种集成电路，特别涉及一种集成电路测试机。

背景技术

集成电路测试常用于芯片生产行业中，由于电信号连接通道涉及的硬件多，链路长，实际测试生产环节常发生在某节点连接性不佳的现象：轻微的不佳表现出整个通道的接触阻抗过高，会造成一定的测试误宰和良率损失;严重的不佳表现出整个通道发生开路，无法测得Pass结果；这对测试系统在产品的SETUP（架机）环节提出了很高的要求；只有良好稳定的SETUP品质，才能保证后续的生产顺利；现行业界的做法包括如下两步:1）使用原厂自带的Cal机板进行连结性确认，但Cal机板只能诊断Tester测试板卡层的问题，且耗时通常要30分钟以上，对于测试板卡到待测品这段中间连接电路无法检测；2）测试程式中增加DC/CR检测项目，但有时无法澄清是待测品本身异常，还是连接电路中的某段异常，量产程式中增加DC&CR项，也造成了测试时间的延长和成本的浪费。

发明内容

本发明的目的是提供一种集成电路测试机连接性检测系统，使得集成电路测试更加灵活方便。

本发明的目的是这样实现的：一种集成电路测试机连接性检测系统，包括接口电路，内部设置有多个连接测试机通道的测试电路，所述测试电路包括：

保护电路，用于将待测电路的电压钳制在适当的电压范围内；

待测电路，用于接入连接性测试的标准二极管；

开路比较电路，用于开路时的电压进行比较及信号灯显示；

短路比较电路，用于短路时的电压比较及信号灯显示；

导通比较电路，用于导通时的电压比较及信号灯显示。

作为本发明的进一步限定，所述开路比较电路、短路比较电路、导通比较电路选用四运算放大器LM324，其中比较放大器LM324-01用于开路比较电路，比较放大器LM324-02、比较放大器LM324-03用于导通比较电路，比较放大器LM324-04用于短路比较电路，四运算放大器LM324的正极接+5V电源，负极接地；

所述开路比较电路包括比较放大器LM324-01，所述比较放大器LM324-01的输入正极接待测电路，输入负极分三路，分别经电阻R1接地、接比较放大器LM324-02的输入正极、经第二电阻接+5V电源，所述比较放大器LM324-01的输出端接三极管Q1基极，三极管Q1的发射极经电阻R3、发光二极管LED1接+5V电源，三极管Q1的集电极接地；

所述导通比较电路包括比较放大器LM324-02、比较放大器LM324-03，所述比较放大器LM324-02的输入负极接待测电路，比较放大器LM324-02输出端接三极管Q2基极，三极管Q2的发射极经电阻R4、发光二极管LED2接+5V电源，三极管Q2的集电极接地，所述比较放大器LM324-03的输入正极接待测电路，比较放大器LM324-03的输入负极接比较放大器LM324-04输入正极，比较放大器LM324-03输出端接三极管Q2基极；

所述短路比较电路包括比较放大器LM324-04，比较放大器LM324-04的输入正极还经电阻R5接地、经电阻R6接+5V电源，比较放大器LM324-04的输入负极接待测电路，比较放大器LM324-04的输出端接三极管Q3基极，三极管Q3的发射极经电阻R7、发光二极管LED3接+5V电源，三极管Q3的集电极接地。