[发明专利]流程控制的测试方法、系统、可读存储介质及电子设备在审

专利信息
申请号: 201911142352.X 申请日: 2019-11-20
公开(公告)号: CN110928781A 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 宋宝栋 申请(专利权)人: 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 张燕
地址: 201114 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 流程 控制 测试 方法 系统 可读 存储 介质 电子设备
【权利要求书】:

1.一种流程控制的测试方法,其特征在于,适应于一电子设备,该电子设备配置有用于串行测试的第一测试平台和用于并行测试的第二测试平台;所述流程控制的测试方法包括:

进入测试流程后,根据预设测试工具中的测试参数,判断是否需要切换至所述第二测试平台;若是,切换至所述第二测试平台,以调用所述第二测试平台与所述第一测试平台执行并行测试;待测试结束,收集包括测试结果的标志文件;若否,仅调用所述第一测试平台执行串行测试。

2.根据权利要求1所述的流程控制的测试方法,其特征在于,所述预设测试工具包括用于测试待测对象功能的测试脚本;所述测试脚本包括所述测试参数。

3.根据权利要求2所述的数据发送方法,其特征在于,

若需执行串行测试时,所述测试参数仅包括待测对象的功能测试参数;

若需执行并行测试时,所述测试参数还包括用于表示需切换到所述第二测试平台并行的参数标记。

4.根据权利要求3所述的流程控制的测试方法,其特征在于,若需切换至所述第二测试平台时,所述流程控制的测试方法还包括将所述预设测试工具复制到独立的运行目录下运行。

5.根据权利要求3所述的流程控制的测试方法,其特征在于,在所述第二测试平台下将预设测试工具自由组合,以实现在所述第二测试平台下的并行测试。

6.根据权利要求1所述的流程控制的测试方法,其特征在于,所述测试结果包括并行测试通过或并行测试失败。

7.一种流程控制的测试系统,其特征在于,适应于一电子设备,该电子设备配置有用于串行测试的第一测试平台和用于并行测试的第二测试平台;所述流程控制的测试系统包括:

判断模块,用于进入测试流程后,根据预设测试工具中的测试参数,判断是否需要切换至所述第二测试平台;若是,通过一调用模块切换至所述第二测试平台,以调用所述第二测试平台与所述第一测试平台执行并行测试;待测试结束,通过一收集模块收集包括测试结果的标志文件;若否,通过所述调用模块调用所述第一测试平台执行串行测试。

8.根据权利要求7所述的流程控制的测试系统,其特征在于,所述流程控制的测试系统包括还包括:存储模块,用于存储所述预设测试工具。

9.一种可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述流程控制的测试方法。

10.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器及存储器;

所述存储器用于存储计算机程序,所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序,以使所述电子设备执行如权利要求1至6中任一项所述流程控制的测试方法。

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