[发明专利]流程控制的测试方法、系统、可读存储介质及电子设备

说明书

本发明提供一种流程控制的测试方法、系统、可读存储介质及电子设备，所述流程控制的测试方法适应于一电子设备，电子设备配置有用于串行测试的第一测试平台和用于并行测试的第二测试平台；所述流程控制的测试方法包括：进入测试流程后，根据预设测试工具中的测试参数，判断是否需要切换至第二测试平台；若是，切换至第二测试平台，以调用第二测试平台与第一测试平台执行并行测试；待测试结束，收集包括测试结果的标志文件；若否，仅调用第一测试平台执行串行测试。本发明通过将测试流程和测试工具配合，灵活控制测试工具并行，大大节省了测试工具的压测时间，提升了产能；且能够提早发现待测设备存在问题，以便及时修正方便后续测试及出货。

技术领域

本发明属于服务器测试技术领域，涉及一种测试方法和系统，特别是涉及一种流程控制的测试方法、系统、可读存储介质及电子设备。

背景技术

目前产线对服务器测试流程中，测试过程都是根据测试工具逐步进行的，整体测试过程和时间相对稳定，耗时相对比较长。有些测试tool虽然自身也可以进行并行测试，但操作起来比较具有局限性，会受到tool自身约束，不方便，不灵活。针对生产线测试问题提前发现以及效能提升方面都面临着相对比较大的压力。

因此，如何提供一种流程控制的测试方法、系统、可读存储介质及电子设备，以解决现有技术在服务器测试流程中都是根据测试工具逐步进行，而这种测试会受到测试工具的约束，导致测试耗时较长，不灵活等缺陷，实已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种流程控制的测试方法、系统、可读存储介质及电子设备，用于解决现有技术在服务器测试流程中都是根据测试工具逐步进行，而这种测试会受到测试工具的约束，导致测试耗时较长，不灵活的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明一方面提供一种流程控制的测试方法，适应于一电子设备，该电子设备配置有用于串行测试的第一测试平台和用于并行测试的第二测试平台；所述流程控制的测试方法包括：进入测试流程后，根据预设测试工具中的测试参数，判断是否需要切换至所述第二测试平台；若是，切换至所述第二测试平台，以调用所述第二测试平台与所述第一测试平台执行并行测试；待测试结束，收集包括测试结果的标志文件；若否，仅调用所述第一测试平台执行串行测试。

于本发明的一实施例中，所述预设测试工具包括用于测试待测对象功能的测试脚本；所述测试脚本包括所述测试参数。

于本发明的一实施例中，若需执行串行测试时，所述测试参数仅包括待测对象的功能测试参数；若需执行并行测试时，所述测试参数还包括用于表示需切换到所述第二测试平台并行的参数标记。

于本发明的一实施例中，若需切换至所述第二测试平台时，所述流程控制的测试方法还包括将所述预设测试工具复制到独立的运行目录下运行。

于本发明的一实施例中，在所述第二测试平台下将预设测试工具自由组合，以实现在所述第二测试平台下的并行测试。

于本发明的一实施例中，所述测试结果包括并行测试通过或并行测试失败。

本发明另一方面提供一种流程控制的测试系统，适应于一电子设备，该电子设备配置有用于串行测试的第一测试平台和用于并行测试的第二测试平台；所述流程控制的测试系统包括：判断模块，用于进入测试流程后，根据预设测试工具中的测试参数，判断是否需要切换至所述第二测试平台；若是，通过一调用模块切换至所述第二测试平台，以调用所述第二测试平台与所述第一测试平台执行并行测试；待测试结束，通过一收集模块收集包括测试结果的标志文件；若否，通过所述调用模块调用所述第一测试平台执行串行测试。

于本发明的一实施例中，所述流程控制的测试系统包括还包括：存储模块，用于存储所述预设测试工具。

本发明又一方面提供一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现所述流程控制的测试方法。