[发明专利]一种半导体器件测试夹具及测试箱体在审

专利信息
申请号: 201911149035.0 申请日: 2019-11-21
公开(公告)号: CN110954802A 公开(公告)日: 2020-04-03
发明(设计)人: 韩正;柏加来;朱国军;唐德平 申请(专利权)人: 合肥科威尔电源系统股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/04
代理公司: 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 代理人: 张景云
地址: 230088 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体器件 测试 夹具 箱体
【权利要求书】:

1.一种半导体器件测试夹具,其特征在于,包括环氧板(1)、第一信号探针(2)、第一连接端(3)、第二信号探针(4)及第二连接端(5),所述环氧板(1)的一侧设置有第一连接端(3),所述环氧板(1)的顶部靠近第一连接端(3)的位置通过连接柱体与第一信号探针(2)相连,所述环氧板(1)的底部还设置有若干根第二信号探针(4),所述环氧板(1)的底部于第二信号探针(4)的一侧设置有第二连接端(5)。

2.根据权利要求1所述的半导体器件测试夹具,其特征在于,所述连接柱体的底部固定设置于环氧板(1)的顶部,所述连接柱体的顶部设置有第一信号探针(2)。

3.根据权利要求1所述的半导体器件测试夹具,其特征在于,所述第一连接端(3)包括第一功率探针(301)、第二功率探针(302)、第三功率探针(303),所述第一功率探针(301)、第二功率探针(302)、第三功率探针(303)自上而下依次设置于环氧板(1)的侧面。

4.根据权利要求3所述的半导体器件测试夹具,其特征在于,所述第一功率探针(301)、第二功率探针(302)、第三功率探针(303)的数量为若干。

5.根据权利要求3所述的半导体器件测试夹具,其特征在于,所述第一功率探针(301)为母线正极,第二功率探针(302)为电感层,第三功率探针(303)为母线负极。

6.根据权利要求1-5任一所述的半导体器件测试夹具,其特征在于,所述第二连接端(5)包括若干根第四功率探针,所述第四功率探针设置于环氧板(1)的底部。

7.一种基于权利要求1-6任一所述的半导体器件测试夹具的测试箱体,其特征在于,包括箱体本体(11)、半导体器件测试自动化工装(12)、叠层母排连接装置(13),所述箱体本体(11)内部设置有半导体器件测试自动化工装(12),所述箱体本体(11)后侧设置有叠层母排连接装置(13),所述叠层母排连接装置(13)与所述半导体器件测试夹具相连,所述半导体器件测试夹具与被测件(6)相连,所述半导体器件测试夹具设置于半导体器件测试自动化工装(12)的顶部并与所述箱体本体(11)内壁相连,所述被测件(6)放置于半导体器件测试自动化工装(12)上。

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