[发明专利]测试芯片的方法及装置

权利要求书

1.测试芯片的方法，其特征在于，包括：

S0：预先确定n个性能指标，将所述n个性能指标划分为关键指标和非关键指标，n为正整数；其中，所述关键指标表示会对测试芯片的测试设备的正常工作产生影响的指标；

S1：将待测试的多个芯片作为第1个性能指标的待测芯片；

S2：i＝1，i为正整数；

S3：确定第i个性能指标的每个待测芯片的第i个性能指标的值；

S4：从第i个性能指标的待测芯片中确定多个第i个性能指标的样本芯片和至少一个待筛选芯片；

S5：根据第i个性能指标的每个样本芯片的第i个性能指标的值，确定第i个性能指标的样本芯片的第i个性能指标的值的平均值和标准差；

S6：根据第i个性能指标的值的平均值和标准差，生成第i个性能指标的测试范围，其中，第i个性能指标的测试范围为(μ₂-3σ₂，μ₂+3σ₂)，μ₂为所述第i个性能指标的值的平均值，σ₂为所述第i个性能指标的值的标准差；

S7：针对每个待筛选芯片，执行：判断当前的待筛选芯片的第i个性能指标的值是否在第i个性能指标的测试范围内，如果是，则确定当前的待筛选芯片的第i个性能指标是合格的，否则，确定当前的待筛选芯片的第i个性能指标是不合格的；

S8：i是否等于n，如果不是，则执行S9；

S9：判断第i个性能指标是否为关键指标，如果是，则将第i个性能指标是合格的待测芯片作为第i+1个性能指标的待测芯片，i＝i+1，返回S3，否则，将第i个性能指标的待测芯片作为第i+1个性能指标的待测芯片，i＝i+1，返回S3。

2.根据权利要求1所述的测试芯片的方法，其特征在于，

进一步包括：

为每个所述性能指标设置一个初始范围；

所述从第i个性能指标的待测芯片中确定多个第i个性能指标的样本芯片和至少一个待筛选芯片，包括：

针对第i个性能指标的每个待测芯片，执行：判断当前的待测芯片的第i个性能指标的值是否在第i个性能指标的初始范围内，如果是，则确定当前的待测芯片通过初次筛选；

从通过初次筛选的第i个性能指标的待测芯片中确定多个第i个性能指标的样本芯片，将通过初次筛选的第i个性能指标的待测芯片中不是样本芯片的芯片作为所述待筛选芯片；

进一步包括：

当判断出当前的待测芯片的第i个性能指标的值不在第i个性能指标的初始范围内时，确定当前的待测芯片的第i个性能指标不合格。

3.根据权利要求1或2所述的测试芯片的方法，其特征在于，

在所述从第i个性能指标的待测芯片中确定多个第i个性能指标的样本芯片和至少一个待筛选芯片之后，进一步包括：

确定第i个性能指标的每个样本芯片的所述第i个性能指标是合格的。