[发明专利]成膜装置、成膜方法以及电子器件的制造装置和制造方法在审
申请号: | 201911161936.1 | 申请日: | 2019-11-25 |
公开(公告)号: | CN111434796A | 公开(公告)日: | 2020-07-21 |
发明(设计)人: | 铃木健太郎 | 申请(专利权)人: | 佳能特机株式会社 |
主分类号: | C23C14/04 | 分类号: | C23C14/04;C23C14/54;C23C16/04;C23C16/52;C23C14/50;C23C16/458 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 刘杨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 装置 方法 以及 电子器件 制造 | ||
1.一种成膜装置,是用于隔着掩模在基板上对成膜材料进行成膜的成膜装置,其特征在于,
该成膜装置包括:
真空容器;
基板支承部件,设置在所述真空容器内,用于支承基板;
掩模支承部件,设置在所述真空容器内,用于支承掩模;
磁悬浮载置台机构,设置在所述真空容器内,能够调整与所述基板支承部件的支承面平行的第1方向、与第1方向交叉且与所述基板支承部件的支承面平行的第2方向、和以与所述第1方向以及所述第2方向这两者交叉的第3方向为中心的旋转方向上的所述基板支承部件的位置;以及
成膜源,设置在所述真空容器内,用于收纳成膜材料,并将所述成膜材料粒子化而放出。
2.根据权利要求1所述的成膜装置,其特征在于,
所述磁悬浮载置台机构能够调整所述第3方向、以所述第1方向为中心的旋转方向、和以所述第2方向为中心的旋转方向上的所述基板支承部件的位置。
3.根据权利要求1或2所述的成膜装置,其特征在于,
所述磁悬浮载置台机构包括:第1板部,位置相对于所述真空容器固定,与所述第1方向以及所述第2方向平行地设置;第2板部,能够相对于所述第1板部相对移动;以及磁悬浮单元,用于使所述第2板部相对于所述第1板部磁悬浮和移动,
所述基板支承部件设置于所述第2板部。
4.根据权利要求3所述的成膜装置,其特征在于,
所述磁悬浮单元包括能够相对于所述第1板部驱动所述第2板部的磁悬浮线性马达。
5.根据权利要求4所述的成膜装置,其特征在于,
所述磁悬浮线性马达包括:第1磁悬浮线性马达,能够沿所述第1方向驱动所述第2板部;第2磁悬浮线性马达,能够沿所述第2方向驱动所述第2板部;以及第3磁悬浮线性马达,能够沿所述第3方向驱动所述第2板部。
6.根据权利要求4或5所述的成膜装置,其特征在于,
所述磁悬浮线性马达包括设置于所述第1板部及所述第2板部中的一方的固定件和设置于另一方的可动件,
所述固定件包括用于驱动所述可动件的磁场产生部件,
所述可动件包括磁性体。
7.根据权利要求3至6中任一项所述的成膜装置,其特征在于,
所述磁悬浮单元还包括用于测量所述第2板部的位置的位置测量部件。
8.根据权利要求7所述的成膜装置,其特征在于,
所述位置测量部件包括相对于所述第1板部固定的激光干涉仪、和与所述激光干涉仪相向地设置于所述第2板部的反射部。
9.根据权利要求7或8所述的成膜装置,其特征在于,
所述位置测量部件包括:第1位置测量部,用于测量所述第1方向上的所述第2板部的位置;第2位置测量部,用于测量所述第2方向上的所述第2板部的位置;以及第3位置测量部,用于测量所述第3方向上的所述第2板部的位置。
10.根据权利要求9所述的成膜装置,其特征在于,
所述第1位置测量部包括被设置成在所述第1方向上照射测量光束的第1激光干涉仪、和与所述第1激光干涉仪相向地设置于所述第2板部的第1反射部,
所述第2位置测量部包括被设置成在所述第2方向上照射测量光束的第2激光干涉仪、和与所述第2激光干涉仪相向地设置于所述第2板部的第2反射部,
所述第3位置测量部包括被设置成在所述第3方向上照射测量光束的多个第3激光干涉仪、和与所述第3激光干涉仪相向地设置于所述第2板部的多个第3反射部,
所述第1激光干涉仪或所述第2激光干涉仪中的至少一方是多个。
11.根据权利要求3至10中任一项所述的成膜装置,其特征在于,
所述磁悬浮单元还包括用于补偿施加于所述第2板部的重力的自重补偿部件。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能特机株式会社,未经佳能特机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911161936.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类