[发明专利]一种显示缺陷的检测方法及装置在审

专利信息
申请号: 201911165639.4 申请日: 2019-11-25
公开(公告)号: CN112950526A 公开(公告)日: 2021-06-11
发明(设计)人: 朱家兵;程海波 申请(专利权)人: 合肥欣奕华智能机器有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/45
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 刘彩红
地址: 230013 安徽省合*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 显示 缺陷 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种显示缺陷的检测方法,其特征在于,包括:

从显示画面中获取无缺陷的参考区域;

根据所述显示画面中各像素的灰度,从所述显示画面中获取多个待处理区域,并确定M个方向的定向共生矩阵、以及每个所述定向共生矩阵的特性参数;其中M为大于1的正整数,每个所述待处理区域对应M个所述定向共生矩阵,所述参考区域对应M个所述定向共生矩阵;

根据所述参考区域和各所述待处理区域分别对应的M个所述定向共生矩阵的特性参数,确定不同方向的所述定向共生矩阵的特性参数对应的阈值;

根据每个所述待处理区域对应的不同方向的定向共生矩阵的特性参数与对应的阈值,从各所述待处理区域中确定存在缺陷的区域。

2.如权利要求1所述的检测方法,其特征在于,根据所述显示画面中各像素的灰度,从所述显示画面中获取多个待处理区域,具体包括:

确定所述显示画面中各像素的灰度;

将灰度大于预设灰度的所述像素定义为第一像素;

将相邻的各所述第一像素构成的区域确定为一个待处理区域。

3.如权利要求1所述的检测方法,其特征在于,根据所述参考区域和各所述待处理区域分别对应的M个所述定向共生矩阵的特性参数,确定不同方向的所述定向共生矩阵的特性参数对应的阈值,具体包括:

确定各所述待处理区域对应的同一方向的所述定向共生矩阵的特性参数之间的标准差,得到不同方向对应的标准差;

根据确定出的任一方向的标准差、以及所述参考区域对应的该方向的定向共生矩阵的特性参数,确定该方向的所述定向共生矩阵的特性参数对应的阈值。

4.如权利要求3所述的检测方法,其特征在于,根据确定出的任一方向的标准差、以及所述参考区域对应的该方向的定向共生矩阵的特性参数,确定该方向的所述定向共生矩阵的特性参数对应的阈值,具体包括:

采用如下公式计算任一方向的所述定向共生矩阵的特性参数对应的阈值:

Y=fnormal+w*σf

其中,Y表示任一方向的所述定向共生矩阵的特性参数对应的阈值,fnormal表示所述参考区域对应的该方向的定向共生矩阵的特性参数,w表示权重,σf表示确定出的该方向的标准差。

5.如权利要求1所述的检测方法,其特征在于,根据每个所述待处理区域对应的不同方向的定向共生矩阵的特性参数与对应的阈值,从各所述待处理区域中确定存在缺陷的区域,具体包括:

根据任一所述待处理区域对应的任一方向的定向共生矩阵的特性参数与对应的阈值,确定在该方向上该所述待处理区域中是否存在缺陷;

根据各方向上的确定结果,判断在不同方向上该所述待处理区域中是否均存在缺陷;

若是,则确定该所述待处理区域中存在缺陷;

若否,则确定该所述待处理区域中不存在缺陷。

6.如权利要求5所述的检测方法,其特征在于,所述特性参数为均匀性参数时,根据任一所述待处理区域对应的任一方向的定向共生矩阵的特性参数与对应的阈值,确定在该方向上该所述待处理区域中是否存在缺陷,具体包括:

判断任一所述待处理区域对应的任一方向的定向共生矩阵的特性参数是否大于该方向对应的阈值;

若是,则确定在该方向上该所述待处理区域中不存在缺陷;

若否,则确定在该方向上该所述待处理区域中存在缺陷。

7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述M为2或4,每两个方向之间互相垂直。

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