[发明专利]一种显示缺陷的检测方法及装置

说明书

本发明公开了一种显示缺陷的检测方法及装置，从显示画面中获取无缺陷的参考区域，根据显示画面中各像素的灰度，从显示画面中获取多个待处理区域，确定M个方向的定向共生矩阵、以及每个定向共生矩阵的特性参数，根据参考区域和各待处理区域分别对应的M个定向共生矩阵的特性参数，确定不同方向的定向共生矩阵的特性参数对应的阈值，根据每个待处理区域对应的不同方向的定向共生矩阵的特性参数与对应的阈值，从各待处理区域中确定存在缺陷的区域。如此，利用了定向共生矩阵，对缺陷区域进行检测，避免采用现有技术中去除横纵网格或滤波处理的方法，有效保留了原始画面中的缺陷信息，提高了显示缺陷的检测准确性，提高了产品检测的准确度。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤指一种显示缺陷的检测方法及装置。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)在显示时通常存在有缺陷，如图1所示的由工业相机拍摄到的一个LCD显示的画面，由于出现了摩尔纹效应而出现横纵的网格。通常，在对LCD的显示画面中的显示缺陷进行检测时，需要去除图像中的横纵网格，或对显示的画面进行滤波处理。

然而，不管是去除横纵网格，还是进行滤波处理，均会丢掉一部分画面中的缺陷信息，使得在进行显示缺陷的检测时，容易造成不良产品漏检的问题出现，降低了显示缺陷的检测准确度。

基于此，如何提高显示缺陷的检测准确度，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供一种显示缺陷的检测方法及装置，提高显示缺陷的检测准确度。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示缺陷的检测方法，包括：

从显示画面中获取无缺陷的参考区域；

根据所述显示画面中各像素的灰度，从所述显示画面中获取多个待处理区域，并确定M个方向的定向共生矩阵、以及每个所述定向共生矩阵的特性参数；其中M为大于1的正整数，每个所述待处理区域对应M个所述定向共生矩阵，所述参考区域对应M个所述定向共生矩阵；

根据所述参考区域和各所述待处理区域分别对应的M个所述定向共生矩阵的特性参数，确定不同方向的所述定向共生矩阵的特性参数对应的阈值；

根据每个所述待处理区域对应的不同方向的定向共生矩阵的特性参数与对应的阈值，从各所述待处理区域中确定存在缺陷的区域。

可选地，根据所述显示画面中各像素的灰度，从所述显示画面中获取多个待处理区域，具体包括：

确定所述显示画面中各像素的灰度；

将灰度大于预设灰度的所述像素定义为第一像素；

将相邻的各所述第一像素构成的区域确定为一个待处理区域。

可选地，根据所述参考区域和各所述待处理区域分别对应的M个所述定向共生矩阵的特性参数，确定不同方向的所述定向共生矩阵的特性参数对应的阈值，具体包括：

确定各所述待处理区域对应的同一方向的所述定向共生矩阵的特性参数之间的标准差，得到不同方向对应的标准差；

根据确定出的任一方向的标准差、以及所述参考区域对应的该方向的定向共生矩阵的特性参数，确定该方向的所述定向共生矩阵的特性参数对应的阈值。

可选地，根据确定出的任一方向的标准差、以及所述参考区域对应的该方向的定向共生矩阵的特性参数，确定该方向的所述定向共生矩阵的特性参数对应的阈值，具体包括：

采用如下公式计算任一方向的所述定向共生矩阵的特性参数对应的阈值：

Y＝f_normal+w*σ_f；