[发明专利]高压密封圈测试装置及测试方法在审

专利信息
申请号: 201911172622.1 申请日: 2019-11-26
公开(公告)号: CN110823467A 公开(公告)日: 2020-02-21
发明(设计)人: 高明忠;谢和平;陈领;张志龙;吴年汉;李聪;李佳南;何志强;杨明庆;余波;胡云起;黄伟 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01M3/04 分类号: G01M3/04;G01M3/26;G01M3/00;G01M13/005
代理公司: 成都熠邦鼎立专利代理有限公司 51263 代理人: 李晓英
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 高压 密封圈 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.高压密封圈测试装置,其特征在于:包括压力舱,所述压力舱包括筒体和测试件安装结构,所述筒体一端设有连通其内部的介质通道,所述筒体另一端有同轴的第一螺纹孔,第一螺纹孔连通筒体内部;

测试件安装结构包括外堵头、内堵头和端盖,所述外堵头与筒体的第一螺纹孔螺纹连接,外堵头上设有与内堵头适配的圆孔,圆孔轴向贯通外堵头;

内堵头安装在外堵头的圆孔中,内堵头外壁有用于安装测试件的环形槽;

所述内堵头的外端有凸台;所述端盖从外端轴向顶紧内堵头和外堵头,使内堵头的凸台轴向贴紧外堵头,所述端盖与筒体或外堵头螺纹连接。

2.根据权利要求1所述的高压密封圈测试装置,其特征在于:所述外堵头外端部设有凸台,所述端盖使外堵头的凸台轴向贴紧筒体。

3.根据权利要求1或2所述的高压密封圈测试装置,其特征在于:外堵头的圆孔为阶梯孔,端盖使内堵头的凸台贴紧阶梯孔的台阶面。

4.根据权利要求1所述的高压密封圈测试装置,其特征在于:筒体的另一端有同轴的第二螺纹孔,第二螺纹孔连通筒体内部,所述第二螺纹孔中装有堵头,堵头与筒体螺纹连接,所述介质通道设于堵头上,介质通道轴向贯通堵头。

5.根据权利要求4所述的高压密封圈测试装置,其特征在于:堵头上还设有压力传感器接口,压力传感器接口连通筒体内部。

6.根据权利要求4或5所述的高压密封圈测试装置,其特征在于:堵头与筒体间设有密封圈。

7.根据权利要求1所述的高压密封圈测试装置,其特征在于:内堵头与外堵头间设有用于安装湿度传感器的安装空间,安装空间位于测试件的外端。

8.高压密封圈的测试方法,其特征在于:利用权利要求1-7中任一项所述的高压密封圈测试装置进行测试,包括以下步骤;

S1,将测试件安装在内堵头外壁的环形槽中,在内堵头外壁与外堵头内壁间安装湿度传感器,湿度传感器位于测试件外端;

S2,通过介质通道向筒体内注入流体介质,保压一定时间,测试测试件的密封性能。

9.根据权利要求8所述的测试方法,其特征在于:将介质通道外接液压源,改变液压源的输出压力,测试测试件在不同压力下的密封性能。

10.根据权利要求8或9所述的测试方法,其特征在于:对液体介质进行加热,测试测试件在不同温度下的密封性能。

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