[发明专利]高压密封圈测试装置及测试方法

说明书

本发明涉及高压密封圈测试装置及测试方法，包括压力舱，压力舱包括筒体和测试件安装结构，筒体一端设有连通其内部的介质通道；测试件安装结构包括外堵头、内堵头和端盖，外堵头与筒体的另一端螺纹连接，内堵头安装在外堵头的圆孔中，内堵头外壁有用于安装测试件的环形槽；端盖从外端轴向顶紧内堵头和外堵头，端盖与外堵头螺纹连接。本发明本发明能用于不同线径、不同厚度的密封圈、不同密封槽形状等的测试试验，其装配简单，使用方便；本发明方法通过在不同温度不同压力测试密封圈的性能，对密封圈的性能评价更加完善和全面，测试结果更可靠。

技术领域

本发明涉及测试设备技术领域，尤其涉及高压密封圈测试装置及测试方法。

背景技术

密封圈是常见的密封件。在保真取芯器中会用到各式各样的密封圈。密封圈的性能直接影响着保真舱的保压性能等。

现有的密封圈测试装置，通常是针对常压下密封性能的检查，保真取芯器通常需要高压存储岩芯，此时密封圈处于高压环境，即使在常压下合格的产品也可能产生泄漏。

此外，现有的密封圈测试装置大多针对同一尺寸的密封圈进行测试，然而对于保真取芯器这种涉及不同尺寸的多个密封圈则需要多个测试装置，成本较高。

发明内容

本发明旨在提供高压密封圈测试装置及测试方法，便于测试密封圈在高压环境下的密封性能。

为达到上述目的，本发明采用的技术方案如下：

高压密封圈测试装置及测试方法，包括压力舱，所述压力舱包括筒体和测试件安装结构，所述筒体一端设有连通其内部的介质通道，所述筒体另一端有同轴的第一螺纹孔，第一螺纹孔连通筒体内部；

测试件安装结构包括外堵头、内堵头和端盖，所述外堵头与筒体的第一螺纹孔螺纹连接，外堵头上设有与内堵头适配的圆孔，圆孔轴向贯通外堵头；

内堵头安装在外堵头的圆孔中，内堵头外壁有用于安装测试件的环形槽；

所述内堵头的外端有凸台；所述端盖从外端轴向顶紧内堵头和外堵头，使内堵头的凸台轴向贴紧外堵头，所述端盖与筒体或外堵头螺纹连接。

进一步的，所述外堵头外端部设有凸台，所述端盖使外堵头的凸台轴向贴紧筒体。

进一步的，外堵头的圆孔为阶梯孔，端盖使内堵头的凸台贴紧阶梯孔的台阶面。

进一步的，筒体的另一端有同轴的第二螺纹孔，第二螺纹孔连通筒体内部，所述第二螺纹孔中装有堵头，堵头与筒体螺纹连接，所述介质通道设于堵头上，介质通道轴向贯通堵头。

进一步的，堵头上还设有压力传感器接口，压力传感器接口连通筒体内部。

优选地，堵头与筒体间设有密封圈。

进一步的，内堵头与外堵头间设有用于安装湿度传感器的安装空间，安装空间位于测试件的外端。

高压密封圈的测试方法，该方法利用上述高压密封圈测试装置进行测试，包括以下步骤；

S1，将测试件安装在内堵头外壁的环形槽中，在内堵头外壁与外堵头内壁间安装湿度传感器，湿度传感器位于测试件外端；

S2，通过介质通道向筒体内注入流体介质，保压一定时间，测试测试件的密封性能。

优选地，将介质通道外接液压源，改变液压源的输出压力，测试测试件在不同压力下的密封性能。

进一步优选地，对液体介质进行加热，测试测试件在不同温度下的密封性能。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：