[发明专利]显示器件的寿命预估方法和装置、存储介质在审
申请号: | 201911191781.6 | 申请日: | 2019-11-28 |
公开(公告)号: | CN110866347A | 公开(公告)日: | 2020-03-06 |
发明(设计)人: | 吴雪梅;陈兆礼;朱修剑 | 申请(专利权)人: | 昆山国显光电有限公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G01M11/00 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 娜拉 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 器件 寿命 预估 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种显示器件的寿命预估方法,其特征在于,所述方法包括:
获取显示器件的初始亮度值及待测亮度值,并获取N个亮度区间对应的N个寿命预估模型;其中,第i个亮度区间对应第i个寿命预估模型,N为大于等于2的整数,i≦N;
根据所述待测亮度值所属的亮度区间,从所述N个寿命预估模型中选择与所述待测亮度值对应的寿命预估模型;
利用选择的所述寿命预估模型,预估所述显示器件从所述初始亮度值衰减到所述待测亮度值所用的时长,所述所用的时长为所述显示器件的亮度值为所述待测亮度值时所述显示器件的寿命。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取与所述显示器件属性相同的实验样品在正常工作电流下的实测亮度衰减曲线;
利用N个所述寿命预估模型对所述实验样品进行寿命预估,得到各所述寿命预估模型对应的拟合亮度衰减曲线;
根据各所述拟合亮度衰减曲线与所述实测亮度衰减曲线,设置N个所述亮度区间及N个所述亮度区间与N个所述寿命预估模型的对应关系。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据各所述拟合亮度衰减曲线与所述实测亮度衰减曲线,设置N个所述亮度区间及N个所述亮度区间与N个所述寿命预估模型的对应关系,包括:
计算各亮度值下、各所述拟合亮度衰减曲线对应的预估寿命值与所述实测亮度衰减曲线对应的实测寿命值的差值;
根据所述差值,设置N个所述亮度区间及N个所述亮度区间与N个所述寿命预估模型的对应关系,使得每个所述亮度区间对应的所述寿命预估模型下的拟合亮度衰减曲线最接近所述实测亮度衰减曲线。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
利用所述实测亮度衰减曲线的预设区间内的实测寿命值及实测亮度值训练对应的所述寿命预估模型的参数,直至所述寿命预估模型对应的拟合亮度衰减曲线与所述实测亮度衰减曲线的相似度大于相似度阈值。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用选择的所述寿命预估模型,预估所述显示器件从所述初始亮度值衰减到所述待测亮度值所用的时长,包括:
将所述初始亮度值及所述待测亮度值输入选择的所述预设的寿命预估模型,计算所述显示器件从所述初始亮度值衰减到所述待测亮度值所用的时长。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述亮度区间包括亮度值大于等于亮度阈值的第一亮度区间和亮度值小于等于所述亮度阈值的第二亮度区间;
所述第一亮度区间对应第一寿命预估模型,所述第二亮度区间对应第二寿命预估模型;
所述第一寿命预估模型的表达式为:
所述第二寿命预估模型的表达式为:
其中,L0为所述初始亮度值,Lt为所述待测亮度值,t为所述显示器件的亮度值为所述待测亮度值时的寿命,a、b为所述第一寿命预估模型的参数,c、d为所述第二寿命预估模型的参数。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述亮度阈值与所述初始亮度值的比值在0.85~0.95之间。
8.根据权利要求1-7任一项所述的方法,其特征在于,所述显示器件包括有机电致发光显示器件。
9.一种显示器件的寿命预估装置,其特征在于,所述装置包括:
数据获取模块,用于获取显示器件的初始亮度值及待测亮度值,并获取N个亮度区间对应的N个寿命预估模型;其中,第i个亮度区间对应第i个寿命预估模型,N为大于等于2的整数,i≦N;
模型确定模块,用于根据所述待测亮度值所属的亮度区间,从所述N个寿命预估模型中选择与所述待测亮度值对应的寿命预估模型;
寿命预估模块,用于利用选择的所述寿命预估模型,预估所述显示器件从所述初始亮度值衰减到所述待测亮度值所用的时长,所述所用的时长为所述显示器件的亮度值为所述待测亮度值时所述显示器件的寿命。
10.一种存储介质,其上存储有程序,其中,程序被处理器执行时实现如权利要求1-8任一项所述的显示器件的寿命预估方法。
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