[发明专利]显示器件的寿命预估方法和装置、存储介质

说明书

本发明公开一种显示器件的寿命预估方法和装置、存储介质。该方法通过获取显示器件的初始亮度值及待测亮度值，及预先设置好的N个亮度区间对应的N个寿命预估模型，进一步判断待测亮度值所属的亮度区间，并从N个寿命预估模型中选择与待测亮度值对应的寿命预估模型，利用选择的寿命预估模型评估显示器件的亮度值为待测亮度值时显示器件的寿命。根据本发明实施例，能够避免始终使用同一个寿命预估模型评估显示器件的寿命，进而提高显示器件的寿命预估的准确性。

技术领域

本发明涉及产品寿命测试技术领域，尤其涉及一种显示器件的寿命预估方法和装置、存储介质。

背景技术

在显示器件的研制过程中，寿命是表征显示器件性能的一个重要指标。目前，对显示器件的任意亮度值进行寿命预估时，采用的始终是同一个寿命预估模型，导致无法对显示器件的寿命进行准确的预估。

因此，如何提高显示器件的寿命预估的准确性是本领域技术人员亟需解决的技术问题。

发明内容

为了解决现有技术中的技术问题，本发明实施例提供了一种显示器件的寿命预估方法和装置、存储介质，旨在提高显示器件的寿命预估的准确性。

第一方面，本发明实施例提供一种显示器件的寿命预估方法，该显示器件的寿命预估方法包括：

获取显示器件的初始亮度值及待测亮度值，并获取N个亮度区间对应的N个寿命预估模型；其中，第i个亮度区间对应第i个寿命预估模型，N为大于等于2的整数，i≦N；

根据待测亮度值所属的亮度区间，从N个寿命预估模型中选择与待测亮度值对应的寿命预估模型；

利用选择的寿命预估模型，预估显示器件从初始亮度值衰减到待测亮度值所用的时长，所用的时长为显示器件的亮度值为待测亮度值时显示器件的寿命。

在第一方面的一种可能的实施方式中，该方法还包括：

获取与显示器件属性相同的实验样品在正常工作电流下的实测亮度衰减曲线；

利用N个寿命预估模型对实验样品进行寿命预估，得到各寿命预估模型对应的拟合亮度衰减曲线；

根据各拟合亮度衰减曲线与实测亮度衰减曲线，设置N个亮度区间及N个亮度区间与N个寿命预估模型的对应关系。

在第一方面的一种可能的实施方式中，根据各拟合亮度衰减曲线与实测亮度衰减曲线，设置N个亮度区间及N个亮度区间与N个寿命预估模型的对应关系，包括：

计算各亮度值下、各拟合亮度衰减曲线对应的预估寿命值与实测亮度衰减曲线对应的实测寿命值的差值；

根据差值，设置N个亮度区间及N个亮度区间与N个寿命预估模型的对应关系，使得每个亮度区间对应的寿命预估模型下的拟合亮度衰减曲线最接近实测亮度衰减曲线。

在第一方面的一种可能的实施方式中，该方法还包括：

利用实测亮度衰减曲线对应的实测寿命值及实测亮度值训练对应的寿命预估模型的参数，直至寿命预估模型对应的拟合亮度衰减曲线与实测亮度衰减曲线的相似度大于相似度阈值。

在第一方面的一种可能的实施方式中，利用选择的寿命预估模型，预估显示器件从初始亮度值衰减到待测亮度值所用的时长，包括：

将初始亮度值及待测亮度值输入选择的预设的寿命预估模型，计算显示器件从初始亮度值衰减到待测亮度值所用的时长。

在第一方面的一种可能的实施方式中，亮度区间包括亮度值大于等于亮度阈值的第一亮度区间和亮度值小于等于亮度阈值的第二亮度区间；

第一亮度区间对应第一寿命预估模型，第二亮度区间对应第二寿命预估模型；

第一寿命预估模型的表达式为：