[发明专利]利用微区X射线衍射表征钢中非金属夹杂物晶体结构的方法有效

专利信息
申请号: 201911199161.7 申请日: 2019-11-29
公开(公告)号: CN111579570B 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 刘洋;李殿中;王培;张潇 申请(专利权)人: 中国科学院金属研究所
主分类号: G01N23/20008 分类号: G01N23/20008;G01N23/207
代理公司: 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 代理人: 张志伟
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 利用 射线 衍射 表征 中非 金属 夹杂 晶体结构 方法
【权利要求书】:

1.一种利用微区X射线衍射表征钢中非金属夹杂物晶体结构的方法,其特征在于,包括如下步骤:

1)采用电解的方法溶解钢基体,收集附着在钢基体表面和阳极泥中的夹杂物于盛装有乙醇的烧杯中,进行超声波处理;

2)立即将处理后的溶液5~10ml倒入表面皿中,之后向表面皿加入乙醇,表面皿内部溶液量不超过表面皿直径的2/3,表面皿的直径为120~140mm;

3)以表面皿底部正中点为旋转中心,使表面皿做转速为0.25~1 rad/s的圆周运动,振幅范围为3~7mm,进行6~8min后,将表面皿静置于水平桌面,采用胶头滴管在表面皿边缘处吸取表面皿内溶液3~8ml,再向表面皿内部补充等量乙醇;

4)重复步骤3)操作直至溶液澄清,采用磁铁吸附溶液内的磁性颗粒;静置4~6min后,采用胶头滴管吸取表面皿底部黑色颗粒,并继续向表面皿中加入1~3ml去离子水溶解表面皿中颗粒中的有机物;

5)重复步骤3)和步骤4)直至底部黑色颗粒消失,采用胶头滴管在边缘处吸取表面皿内溶液4~6ml,盖上同尺寸的表面皿静置,此时表面皿底部有可见的聚集颗粒;

6)重复步骤2)至步骤5)五次以上,获得至少五个在表面皿底部有颗粒和溶液的表面皿;

7)采用洁净的一次性移液管依次吸取上述表面皿的底部颗粒和溶液,转移到直径为170~190mm的表面皿内,吸取后的一次性移液管应继续吸取乙醇2~3次,每次吸取2~4ml,并将乙醇转移到该直径为170~190mm的表面皿;

8)重复步骤2)至步骤5)数次,使直径为170~190mm的表面皿底部汇聚足量的夹杂物颗粒,使夹杂物颗粒的覆盖于表面皿底部,直径2mm的圆形区域内,盖上同尺寸的表面皿,室温条件静置6~8h;

9)表面皿内乙醇完全挥发后,用玻璃刀在表面皿背面划出尺寸为20mm×20mm的区域痕迹,将底部颗粒包括在该区域内,切下该区域的玻璃片,直接放置在微区X射线衍射的样品台上,调整束斑在颗粒聚集区域进行检测,微区衍射的入射X射线光斑为φ0.05~0.2mm;

微区X射线衍射检测的参考测试设置参数为:电压电流为40kV/0.5mA,2θ角度范围30~90度,从30度开始,每隔15度扫描一个二维谱,一共扫描5步,每个二维谱扫描时间是300s;限束装置准直管的直径选用的是0.5mm,利用DIFFRAC.EVA软件将二维衍射谱转换为一维衍射谱线分析。

2.根据权利要求1所述的利用微区X射线衍射表征钢中非金属夹杂物晶体结构的方法,其特征在于,电解过程参数为:按体积百分比计,电解液包括三乙醇胺3~10%、丙三醇3~10%、四甲基氯化铵1~3%、其余为甲醇;电流密度40~100mA/cm2,电解时间3~8h,阳极样品尺寸60mm×8 mm×6mm。

3.根据权利要求1所述的利用微区X射线衍射表征钢中非金属夹杂物晶体结构的方法,其特征在于,采用磁铁吸附溶液内磁性颗粒时,保证磁铁不与溶液接触。

4.根据权利要求1所述的利用微区X射线衍射表征钢中非金属夹杂物晶体结构的方法,其特征在于,采用胶头滴管吸取表面皿底部黑色颗粒时,保证底部其他颗粒不被破坏。

5.根据权利要求1所述的利用微区X射线衍射表征钢中非金属夹杂物晶体结构的方法,其特征在于,切下表面皿内的玻璃片时,保证玻璃片上的颗粒不被切割屑污染。

6.根据权利要求1所述的利用微区X射线衍射表征钢中非金属夹杂物晶体结构的方法,其特征在于,该方法广泛应用于不同钢种的夹杂物晶体结构确定。

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