[发明专利]一种畸变图像的校正方法及装置

权利要求书

1.一种畸变图像的校正方法，其特征在于，所述方法包括：

获取原始畸变图像；

从所述原始畸变图像中确定目标区域；其中，所述目标区域之外的区域为背景区域；

将所述目标区域进行细粒度栅格化的粒度采样，获得原始细粒度区域；

将所述背景区域进行粗粒度栅格化的粒度采样，获得原始粗粒度区域；

基于所述原始细粒度区域与所述原始粗粒度区域对所述原始畸变图像进行去畸变，获得优化图像。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述目标区域进行细粒度栅格化的粒度采样，获得原始细粒度区域，包括：

确定所述目标区域的边缘位置；

根据所述目标区域内各个位置与边缘位置的距离由远至近，对所述目标区域进行粒度由大至小的细粒度栅格化，获得原始细粒度区域。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述目标区域进行细粒度栅格化的粒度采样，获得原始细粒度区域，包括：

确定所述原始畸变图像的中心位置；

根据所述目标区域内各个位置与中心位置的距离由近至远，对所述目标区域进行粒度由大至小的细粒度栅格化，获得原始细粒度区域。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述背景区域进行粗粒度栅格化的粒度采样，获得原始粗粒度区域，包括：

确定所述原始畸变图像的中心位置；

根据所述背景区域内各个位置与中心位置的距离由近至远，对所述目标区域进行粒度由大至小的粗粒度栅格化，获得原始粗粒度区域。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述背景区域进行粗粒度栅格化的粒度采样，获得原始粗粒度区域，包括：

确定所述背景区域中的四个角部区域；

将所述四个角部区域进行第一粒度大小的粗粒度栅格化，且

将所述四个角部区域之外的所述背景区域进行第二粒度大小的粗粒度栅格化，获得原始粗粒度区域；其中，所述第一粒度大小小于所述第二粒度大小。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述背景区域进行粗粒度栅格化的粒度采样，获得原始粗粒度区域，包括：

确定所述目标区域的边缘位置；

根据所述背景区域内各个位置与所述边缘位置的距离由近至远，对所述目标区域进行粒度由小至大的粗粒度栅格化，获得原始粗粒度区域。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述原始细粒度区域包括原始细粒度采样点，所述原始粗粒度区域包括原始粗粒度采样点；所述优化图像包括优化细粒度区域和优化粗粒度区域；所述基于所述细粒度区域与所述粗粒度区域对所述原始畸变图像进行去畸变，获得优化图像，包括：

将所述原始畸变图像进行去畸变换，获得去畸变图像；其中，所述去畸变图像包括去畸变细粒度采样点和去畸变粗粒度采样点，所述去畸变细粒度采样点由原始细粒度采样点变换获得，所述去畸变粗粒度采样点由原始粗粒度采样点变换获得；

根据所述原始细粒度采样点和所述去畸变细粒度采样点，获得所述优化细粒度区域；

根据所述原始粗粒度采样点和所述去畸变粗粒度采样点，获得所述优化粗粒度区域。

8.一种畸变图像的校正装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取原始畸变图像；

确定模块，用于从所述原始畸变图像中确定目标区域；其中，所述目标区域之外的区域为背景区域；

细粒度采样模块，用于将所述目标区域进行细粒度栅格化的粒度采样，获得原始细粒度区域；

粗粒度采样模块，用于将所述背景区域进行粗粒度栅格化的粒度采样，获得原始粗粒度区域；

优化模块，用于基于所述原始细粒度区域与所述原始粗粒度区域对所述原始畸变图像进行去畸变，获得优化图像。

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器耦接到所述处理器，所述存储器存储指令，当所述指令由所述处理器执行时使所述电子设备执行权利要求1-7中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述方法的步骤。