[发明专利]一种畸变图像的校正方法及装置

说明书

本发明公开了一种畸变图像的校正方法及装置，所述方法包括：获取原始畸变图像；从所述原始畸变图像中确定目标区域；其中，所述目标区域之外的区域为背景区域；将所述目标区域进行细粒度栅格化的粒度采样，获得原始细粒度区域；将所述背景区域进行粗粒度栅格化的粒度采样，获得原始粗粒度区域；基于所述原始细粒度区域与所述原始粗粒度区域对所述原始畸变图像进行去畸变，获得优化图像。本发明显著的降低了对原始畸变图像的处理时间，提高用户的拍照体验。

技术领域

本发明涉及计算机及图像处理技术领域，尤其涉及一种畸变图像的校正方法及装置。

背景技术

随着手持电子设备的不断发展，越来越多的电子设备都带有拍照功能，但现有的电子设备的拍照功能普遍存在一定的图像畸变问题。在采用广角镜头拍摄照片的时候，越靠近边缘的图像畸变越严重，对于人像拍摄的相片畸变显现的尤为明显。所以，一般在电子设备拍摄得到图像之后均需要进行畸变校正，最终获得相片。

然而，在目前畸变图像的校正过程中，进行图像变换优化时存在处理器开销大，难以在短时间内完成处理，常常消耗秒级以上的时间，严重降低了用户的拍照体验。

发明内容

鉴于上述问题，本发明提出了一种畸变图像的校正方法及装置，显著的降低了对原始畸变图像的处理时间，提高用户的拍照体验。

第一方面，本申请通过一实施例提供如下技术方案：

一种畸变图像的校正方法，所述方法包括：

获取原始畸变图像；从所述原始畸变图像中确定目标区域；其中，所述目标区域之外的区域为背景区域；将所述目标区域进行细粒度栅格化的粒度采样，获得原始细粒度区域；将所述背景区域进行粗粒度栅格化的粒度采样，获得原始粗粒度区域；基于所述原始细粒度区域与所述原始粗粒度区域对所述原始畸变图像进行去畸变，获得优化图像。

优选地，所述将所述目标区域进行细粒度栅格化的粒度采样，获得原始细粒度区域，包括：

确定所述目标区域的边缘位置；根据所述目标区域内各个位置与边缘位置的距离由远至近，对所述目标区域进行粒度由大至小的细粒度栅格化，获得原始细粒度区域。

优选地，所述将所述目标区域进行细粒度栅格化的粒度采样，获得原始细粒度区域，包括：

确定所述原始畸变图像的中心位置；根据所述目标区域内各个位置与中心位置的距离由近至远，对所述目标区域进行粒度由大至小的细粒度栅格化，获得原始细粒度区域。

优选地，所述将所述背景区域进行粗粒度栅格化的粒度采样，获得原始粗粒度区域，包括：

确定所述原始畸变图像的中心位置；根据所述背景区域内各个位置与中心位置的距离由近至远，对所述目标区域进行粒度由大至小的粗粒度栅格化，获得原始粗粒度区域。

优选地，所述将所述背景区域进行粗粒度栅格化的粒度采样，获得原始粗粒度区域，包括：

确定所述背景区域中的四个角部区域；将所述四个角部区域进行第一粒度大小的粗粒度栅格化，且将所述四个角部区域之外的所述背景区域进行第二粒度大小的粗粒度栅格化，获得原始粗粒度区域；其中，所述第一粒度大小小于所述第二粒度大小。

优选地，所述将所述背景区域进行粗粒度栅格化的粒度采样，获得原始粗粒度区域，包括：

确定所述目标区域的边缘位置；根据所述背景区域内各个位置与所述边缘位置的距离由近至远，对所述目标区域进行粒度由小至大的粗粒度栅格化，获得原始粗粒度区域。

优选地，所述原始细粒度区域包括原始细粒度采样点，所述原始粗粒度区域包括原始粗粒度采样点；所述优化图像包括优化细粒度区域和优化粗粒度区域；所述基于所述细粒度区域与所述粗粒度区域对所述原始畸变图像进行去畸变，获得优化图像，包括：