[发明专利]用于集成电路老化测试的手动测试夹具在审

专利信息
申请号: 201911203859.1 申请日: 2019-11-29
公开(公告)号: CN110736918A 公开(公告)日: 2020-01-31
发明(设计)人: 姜扬;王传刚 申请(专利权)人: 法特迪精密科技(苏州)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 32260 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 代理人: 丰叶
地址: 215000 江苏省苏州市苏州工业园区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 集成电路 温度传感器 引脚 集成电路测试 测试 控制连接器 加热元器件 元器件 夹具 弹性连接 老化测试 手动测试 温度区间 温控设备 引脚接地 上表面 盖合 加热 串联 老化
【权利要求书】:

1.一种用于集成电路老化测试的手动测试夹具,包括测试盖(1)、集成电路测试座(2),所述测试盖(1)位于集成电路测试座(2)上方,且所述测试盖(1)能盖合所述集成电路测试座(2),其特征在于:所述测试盖(1)上设置有温度传感器(3),所述温度传感器(3)能与集成电路测试座(2)上的待测集成电路(4)上表面接触,所述温度传感器(3)与测试盖(1)弹性连接,所述测试盖(1)上设置有对待测集成电路(4)降温的降温元器件(5)、对待测集成电路(4)升温的加热元器件(6),所述加热元器件(6)、降温元器件(5)分别连接到温控设备的控制连接器(12)的第一引脚、第三引脚上,所述控制连接器(12)的第五引脚和第六引脚上串联有温度传感器(3),所述控制连接器(12)的第二引脚、第四引脚接地。

2.根据权利要求1所述的用于集成电路老化测试的手动测试夹具,其特征在于:还包括串联的电阻(7)、加热指示灯(8),串联的所述电阻(7)、加热指示灯(8)与加热元器件(6)并联。

3.根据权利要求1所述的用于集成电路老化测试的手动测试夹具,其特征在于:还包括肖特基整流二极管(9),所述肖特基整流二极管(9)与降温元器件(5)并联。

4.根据权利要求1所述的用于集成电路老化测试的手动测试夹具,其特征在于:所述降温元器件(5)为风扇。

5.根据权利要求1所述的用于集成电路老化测试的手动测试夹具,其特征在于:所述温度传感器(3)采用K型热电偶。

6.根据权利要求1所述的用于集成电路老化测试的手动测试夹具,其特征在于:所述加热元器件(6)采用加热棒,所述加热棒设置有多个,多个所述加热棒横向设置在测试盖(1)上。

7.根据权利要求1所述的用于集成电路老化测试的手动测试夹具,其特征在于:所述降温元器件(5)设置在加热元器件(6)的上方,所述加热元器件(6)底部的测试盖(1)为封闭结构,所述测试盖(1)底部采用金属。

8.根据权利要求1所述的用于集成电路老化测试的手动测试夹具,其特征在于:所述测试盖(1)与集成电路测试座(2)对应的相对两侧设置有扣合两者的弹性卡扣(13)。

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