[发明专利]用于集成电路老化测试的手动测试夹具

说明书

本发明公开了一种用于集成电路老化测试的手动测试夹具，包括测试盖、集成电路测试座，测试盖位于集成电路测试座上方，且测试盖能盖合集成电路测试座，测试盖上设置有温度传感器，温度传感器能与集成电路测试座上的待测集成电路上表面接触，温度传感器与测试盖弹性连接，测试盖上设置有对待测集成电路降温的降温元器件、对待测集成电路升温的加热元器件，加热元器件、降温元器件以及温度传感器分别连接到温控设备的控制连接器的第一引脚、第三引脚上，控制连接器的第五引脚和第六引脚上串联有温度传感器，控制连接器的第二引脚、第四引脚接地。本发明能有效加热待测集成电路，使集成电路处于符合要求的温度区间的用于集成电路老化测。

技术领域

本发明涉及一种用于集成电路老化测试的手动测试夹具。

背景技术

传统的集成电路老化测试，需要将测试夹具放入密闭空间(老化炉)中，控制密闭空间内的环境温度，以达到加快集成电路达到使用寿命的目的。但这种方式为提高效率需要集中大量的测试夹具，当集成电路数量不大并且需要对每颗待测集成电路进行监控时，传统的老化炉测试已无法满足要求。

发明内容

为克服上述缺点，本发明的目的在于提供一种有效加热待测集成电路，使集成电路处于符合要求的温度区间的用于集成电路老化测试的手动测试夹具。

为了达到以上目的，本发明采用的技术方案是：一种用于集成电路老化测试的手动测试夹具，包括测试盖、集成电路测试座，所述测试盖位于集成电路测试座上方，且所述测试盖能盖合所述集成电路测试座，所述测试盖上设置有温度传感器，所述温度传感器能与集成电路测试座上的待测集成电路上表面接触，所述温度传感器与测试盖弹性连接，所述测试盖上设置有对待测集成电路降温的降温元器件、对待测集成电路升温的加热元器件，所述加热元器件、降温元器件以及温度传感器连接到外部辅助的温控设备的控制连接器的第一引脚、第三引脚上，所述控制连接器的第五引脚和第六引脚上串联有温度传感器，所述控制连接器的第二引脚、第四引脚接地。

本发明用于集成电路老化测试的手动测试夹具的有益效果是，采用上述方案后，具有所需空间小，一颗集成电路配合一套测试夹具即可进行集成电路的老化测试，不需要考虑传统老化炉的空间利用成本；以及精度高，每一套测试夹具都有独立的温度传感器、加热棒和风扇，可以精准控制每一颗集成电路的温度处于所需温度区间的优点。

优选地，还包括串联的电阻、加热指示灯，串联的所述电阻、加热指示灯与加热元器件并联。电阻是给加热指示灯限流分压用的，使指示灯能正常工作。加热指示灯亮时说明正处于加热状态。

优选地，还包括肖特基整流二极管，所述肖特基整流二极管与降温元器件并联。由于降温元器件是感性负载，肖特基二极管作为续流二极管，在降温元器件关闭时保护电路元件不被感应电压击穿或烧坏。

优选地，所述降温元器件为风扇。

优选地，所述温度传感器采用常用的接触式热电偶，针对集成电路的老化温度(一般在80℃－150℃)，一般选用K型热电偶。

优选地，所述加热元器件采用加热棒，所述加热棒设置有多个，多个所述加热棒横向设置在测试盖上。横向设置的加热棒能将测试盖加热均匀。之所以采用加热棒作为加热元器件，是因为考虑到集成电路尺寸比较小的因素，选用这种尺寸最小的加热棒作为最合适的热源。

优选地，所述降温元器件设置在加热元器件的上方，所述加热元器件底部的测试盖为封闭结构，用以压合集成电路测试座内的待测集成电路，所述测试盖底部采用导热性较好的金属，如铜、铝等材质。

优选地，所述测试盖与集成电路测试座对应的相对两侧设置有扣合两者的弹性卡扣。测试盖可以手动盖合或是利用机器自动压合，弹性卡扣的设置用以保证测试盖与集成电路测试座的扣合。

附图说明

图1为本实施例的立体图；

图2为本实施例中的电路原理图。