[发明专利]微粒子检测传感器和微粒子检测装置

说明书

本发明提供一种微粒子检测传感器和微粒子检测装置。微粒子检测传感器(1)包括封装发光元件(3)和光接收元件(6)的透光树脂(5)、设置于透光树脂(5)并将从发光元件(3)出射的输出光(8)朝向光接收视线范围(10)并反射的反射面(7)。

技术领域

本发明涉及一种微粒子检测传感器，其检测例如空气中的灰尘、烟草的烟等的微粒子。

背景技术

微粒子检测传感器将来自发光元件的输出光(照射光束)照射到光接收元件的光接收视线范围(检测区域)内，并且通过由光接收元件检测照射到该光接收视线范围内的微粒子而产生的散射光，从而检测微粒子的有无。具体地，可以基于散射光的量(亮度)、检测频率来检测微粒子的密度(脏污度)、微粒子的类型。

以往的微粒子检测传感器方法可以大致分为两种：平均浓度方法和粒子计数方法。平均浓度方法是通过以脉冲点亮发光元件，并在点亮的时间内检测照射到光接收元件的光接收视线范围内的微粒子而产生的散射光的量来检测微粒子的数量的方法。另一方面，粒子计数方法是使发光元件常亮，检测由于微粒子在会聚而成的输出光的光束内通过而产生的散射光的强度和频率，并检测微粒子的类型和浓度的方法。

例如，在专利文献1中公开了使用平均浓度方法的微粒子检测传感器。另外，例如，在专利文献2中公开了使用粒子计数方法的微粒子检测传感器。

在这种微粒子检测传感器中，由于需要检测输出光照射到光接收元件的光接收视线范围内的微粒子而产生的散射光，因此需要将来自发光元件的输出光照射至光接收元件的光接收视线范围内。因此，在以往的微粒子检测传感器中，例如，如专利文献3中所公开的那样，为了将来自发光元件的输出光引导至光接收元件的光接收视线范围内，与发光元件分开地设置壳体。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本国公开专利公报“专利第3574354号公报”

专利文献2：日本国公开专利公报“特开2016-224034号公报”

专利文献3：日本公开专利公报“特开2018-128905号公报”

发明内容

本发明所要解决的技术问题

近年来，随着微粒子检测传感器的普及，由于期望检测各个位置的微粒子浓度，因此要求微粒子检测传感器的小型化。然而，设置以往的外壳的构造不利于微粒子检测传感器的小型化和薄型化。另外，在制造微粒子检测传感器过程中，需要一个单独的外壳的构件，产生安装工时等对低成本化不利。

本发明是鉴于上述问题而完成的，其目的在于提供一种可以实现微粒子检测传感器的小型化、薄型化且可以以低成本制造的微粒子检测传感器。

解决问题的方案

(1)本发明的一实施方式的微粒子检测传感器包括发光元件，其输出输出光；光接收元件，其检测通过对光接收视线范围内的微粒子照射所述输出光而产生的散射光；透光树脂，其封装所述发光元件和所述光接收元件；以及反射面，其设置于所述透光树脂处，并将从所述发光元件出射的所述输出光朝向所述光接收视线范围并反射。

(2)另外，本发明的一实施方式在上述(1)的构成的基础上，向所述光接收视线范围照射的所述输出光的光束直径等于或小于所述反射面的形成宽度。

(3)另外，本发明的一实施方式在上述(2)的构成的基础上，所述反射面缩窄所述输出光的光束直径并将所述输出光朝向所述光接收视线范围反射。

(4)另外，本发明的一实施方式在上述(1)至(3)的构成的基础上，所述光接收视线范围的视线方向与由所述反射面反射的所述输出光的光轴方向呈大致90度的角度。