[发明专利]基于时域的电磁信息泄漏检测方法、终端设备及存储介质

说明书

本发明涉及基于时域的电磁信息泄漏检测方法、终端设备及存储介质，该方法中包括：S1：采集待测电磁信号，并将其转换为一维时域信号；S2：构建泄漏特征分类模型并进行训练，所述泄漏特征分类模型包括两个卷积层、两个池化层和一个全连接层；S3：将一维时域信号输入训练后的模型后，得到电磁信息泄漏特征的特征向量和分类得分；S4：根据特征向量和分类得分基于梯度加权映射计算其热点图；S5：将热点图作为滤波器对待测电磁信号进行滤波后，得到待测电磁信息泄漏特征在电磁信号中的位置，以实现电磁信息泄漏特征的定位和检测。本发明在无需实现定义信息特征的情况下，实现了对时域电磁信号中的信息泄漏特征重点区域的定位和提取。

技术领域

本发明涉及电磁泄漏信息检测领域，尤其涉及一种基于时域的电磁信息泄漏检测方法、终端设备及存储介质。

背景技术

电磁泄漏信号是包括计算机及其相关附属设备在内的电子信息设备工作时，伴随着信息输入、处理、输出等过程中的电流变化产生的电磁辐射信号。不仅仅是显示屏、键盘、鼠标等外部设备，内部设备如芯片、磁盘等在工作中同样会辐射出携带信息的电磁信号。这些携带信息的电磁信号就有可能被接收和还原技术进行复现，对于某些保密信息的泄漏是不可接受的。所以电磁信息泄漏对信息安全的威胁是巨大的。为了应对电磁信息泄漏带来的信息安全威胁，必须对电子信息设备进行有效的电磁信息泄漏检测。不同于人为产生的有意电磁发射，自然发生的无意电磁辐射的复杂性，还没有被完全掌握，未有完整的理论解释和完善的检测方法。对于电磁信号中信息泄漏特征的定位和提取缺乏智能化方法。电磁信息泄漏检测的结果可以为电子设备的电磁信息安全防护提供依据，传统的防护方法如采用低辐射设备、屏蔽加固技术、噪声干扰技术等防护手段由于无法准确定位电磁信号中的主要电磁信息泄漏特征，只能无差别对整体进行防护降低整体的电磁信息辐射强度，防护方法存在一定盲目性，与此同时防护的成本也比较高。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提出了一种基于时域的电磁信息泄漏检测方法、终端设备及存储介质。

具体方案如下：

一种基于时域的电磁信息泄漏检测方法，包括以下步骤：

S1：采集待测电磁信号，并将其转换为一维时域信号；

S2：构建泄漏特征分类模型并采集训练样本进行训练，所述泄漏特征分类模型包括两个卷积层、两个池化层和一个全连接层；

S3：将一维时域信号输入训练后的模型后，得到电磁信息泄漏特征的特征向量和分类得分；

S4：根据电磁信息泄漏特征的特征向量和分类得分，计算其热点图；

S5：将热点图作为滤波器对待测电磁信号进行滤波后，得到待测电磁信息泄漏特征在电磁信号中的位置，以实现电磁信息泄漏特征的定位和检测。

进一步的，两个卷积层均采用一维卷积核，其卷积计算公式为：

其中，L表示各层的索引号，X^(L)和X^(L+1)分别表示第L层的输入特征向量和输出特征向量，W^(L)表示第L层的权值向量，B^(L)表示第L层的偏置向量。

进一步的，卷积层中的激活函数采用线性整流函数ReLU：

ReLU(x)＝max(0,x)

其中，x表示函数的自变量。

进一步的，卷积层中还包括Dropout函数，Dropout函数影响后的结果为：

x*_i,j^(L)＝x_i,j^(L)×r_i,j^(L)/p