[发明专利]测试方法、装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种测试方法，其特征在于，应用于电子设备，所述方法包括：

基于配置的数据格式以及配置的数据量，获取待测数据；

基于测试所用的待测算法，配置与所述待测算法相关联的测试用例；

执行所述测试用例，对所述待测数据进行测试。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括配置数据格式和数据量的步骤，所述步骤包括：

基于所述待测算法对应的待测数据的数据格式，配置数据格式；

基于预先设定的待测数据量，配置数据量。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，配置的数据格式以及配置的数据量存储于第一表格中，生成的所述待测数据存储于待测数据表中，所述基于配置的数据格式以及配置的数据量，获取待测数据的步骤包括：

对所述第一表格进行解析，根据所述第一表格中配置的数据格式以及配置的数据量，获取所述待测数据，将所述待测数据插入至待测数据表进行存储。

4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述数据格式包括：至少一个数据字段、各所述数据字段对应的格式类型、各所述数据字段对应的最大长度以及各所述数据字段对应的条件设置。

5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述数据格式还包括各所述数据字段对应的数据来源，所述根据所述第一表格中配置的数据格式以及配置的数据量，获取待测数据的步骤包括：

根据各所述数据字段对应的数据来源，获取与各所述数据字段的待测数据；其中，获取的所述待测数据的数据量与配置的数据量相同。

6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述将所述待测数据插入至待测数据表进行存储的步骤包括：

根据各所述数据字段对应的最大长度、各所述数据字段对应的条件设置，将各所述数据字段对应的待测数据插入至所述待测数据表进行存储。

7.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，在执行所述测试用例，对所述待测数据进行测试后，所述方法还包括：

返回所述测试用例以及测试结果，并以页面进行展示。

8.一种测试装置，其特征在于，应用于电子设备，所述测试装置包括配置模块以及测试模块；

所述配置模块用于基于配置的数据格式以及配置的数据量，获取待测数据，以及基于测试所用的待测算法，配置与所述待测算法相关联的测试用例；

所述测试模块用于执行所述测试用例，对所述待测数据进行测试。

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器及存储有计算机指令的非易失性存储器，所述计算机指令被所述处理器执行时，所述电子设备执行权利要求1-7中任意一项所述的测试方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时实现权利要求1-7中任意一项所述的测试方法。