[发明专利]测试方法、装置、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 201911217473.6 申请日: 2019-12-02
公开(公告)号: CN110968514A 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 丁一 申请(专利权)人: 北京明略软件系统有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京超成律师事务所 11646 代理人: 孔默
地址: 100000 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质
【说明书】:

发明的实施例提供了一种测试方法、装置、电子设备和存储介质,涉及测试技术领域。本发明实施例提供的测试方法、装置、电子设备和存储介质,基于配置的数据格式以及配置的数据量,获取待测数据,并基于测试所用的待测算法,配置与待测算法相关联的测试用例,通过执行测试用例,对待测数据进行测试,降低了待测数据生成的难度以及测试工作的复杂度,减少了测试工作的工作量。

技术领域

本发明涉及测试技术领域,具体而言,涉及一种测试方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

在传统的统计学中,数据是混合在一起的,就像容器内的分子,主要关心的是大量数据中呈现出的宏观量,就像容器内气体的温度。但是对大数据的测试分析则需要更近一步,它不仅仅是要搞清楚宏观统计规律,更要弄清宏观数据中的精细结构。

而目前,针对大数据的测试工作也变得越来越复杂,传统的数据测试通过一条结构化查询语言(Structured Query Language,SQL)即可实现,但是这种方式在大数据场景下则变得无从下手,在大数据场景下,一方面既要生成符合实际场景的大数据,另一方面又要分析基于测试算法得到的测试结果是否符合测试算法的结果要求,对测试算法的执行进行验证,导致目前的大数据的测试工作较复杂,且工作量大。

发明内容

基于上述研究,本发明提供了一种测试方法、装置、电子设备和存储介质。

本发明的实施例可以这样实现:

第一方面,本发明实施例提供一种测试方法,应用于电子设备,所述方法包括:

基于配置的数据格式以及配置的数据量,获取待测数据;

基于测试所用的待测算法,配置与所述待测算法相关联的测试用例;

执行所述测试用例,对所述待测数据进行测试。

在可选的实施方式中,所述方法还包括配置数据格式和数据量的步骤,所述步骤包括:

基于所述待测算法对应的待测数据的数据格式,配置数据格式;

基于预先设定的待测数据量,配置数据量。

在可选的实施方式中,配置的数据格式,以及配置的数据量存储于第一表格中,生成的所述待测数据存储于待测数据表中,所述基于配置的数据格式以及配置的数据量,获取待测数据的步骤包括:

对所述第一表格进行解析,根据所述第一表格中配置的数据格式以及配置的数据量,获取所述待测数据,将所述待测数据插入至待测数据表进行存储。

在可选的实施方式中,所述数据格式包括:至少一个数据字段、各所述数据字段对应的格式类型、各所述数据字段对应的最大长度以及各所述数据字段对应的条件设置。

在可选的实施方式中,所述数据格式还包括各所述数据字段对应的数据来源,所述根据所述第一表格中配置的数据格式以及配置的数据量,获取待测数据的步骤包括:

根据各所述数据字段对应的数据来源,获取与各所述数据字段的待测数据;其中,获取的所述待测数据的数据量与配置的数据量相同。

在可选的实施方式中,所述将所述待测数据插入至待测数据表进行存储的步骤包括:

根据各所述数据字段对应的最大长度、各所述数据字段对应的条件设置,将各所述数据字段对应的待测数据插入至所述待测数据表进行存储。

在可选的实施方式中,在执行所述测试用例,对所述待测数据进行测试后,所述方法还包括:

返回所述测试用例以及测试结果,并以页面进行展示。

第二方面,本发明实施例提供一种测试装置,应用于电子设备,所述测试装置包括配置模块以及测试模块;

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