[发明专利]集成电路、方法和计算机程序在审

专利信息
申请号: 201911219493.7 申请日: 2019-12-03
公开(公告)号: CN111291428A 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: S·布莱斯 申请(专利权)人: 万事达卡国际股份有限公司
主分类号: G06F21/79 分类号: G06F21/79;G06F21/60
代理公司: 北京世峰知识产权代理有限公司 11713 代理人: 卓霖;张春媛
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 集成电路 方法 计算机 程序
【权利要求书】:

1.一种集成电路,包括:

处理区域,其被配置为运行多条指令中的一条指令;

第一温度测量区域,其被配置为响应于所述处理区域运行所述一条指令来测量所述集成电路内的第一温度;

所述处理区域被配置为:将所测量的第一温度与当所述处理区域运行所述一条指令时所述第一温度测量区域的预定温度进行比较,并且在测量的所述第一温度超过所述预定温度的值达到阈值时触发事件。

2.根据权利要求1所述的集成电路,包括:

第二温度测量区域,其被配置为响应于所述处理区域正运行所述一条指令来测量所述集成电路内的第二温度,并且所述处理区域还被配置为当所述测量的第一温度和所测量的第二温度之间的差值超过预定温度差值的值达到预定量时,触发所述事件。

3.根据权利要求1或2中的任一项所述的集成电路,其中,所述事件是检测对所述集成电路的物理攻击。

4.根据权利要求3所述的集成电路,所述集成电路包括存储区域,所述存储区域包括安全区域和非安全区域,其中,在检测到物理攻击的情况下,所述处理区域被配置为从所述安全区域删除数据。

5.一种用于检测对集成电路的物理攻击的方法,所述方法包括:

运行多个指令中的一条指令;

响应于所述一条指令的运行,测量所述集成电路内的第一温度;

将所测量的第一温度与当运行所述一条指令时第一温度测量区域的预定温度进行比较,并且在测量的所述第一温度超过所述预定温度的值达到阈值时触发事件。

6.根据权利要求5所述的方法,包括:

响应于正运行所述一条指令来测量所述集成电路内的第二温度,并且当测量的所述第一温度和测量的所述第二温度之间的差值超过预定温度差值的值达到预定量时,触发所述事件。

7.根据权利要求5或6中的任一项所述的方法,其中,所述事件是检测对所述集成电路的物理攻击。

8.根据权利要求7所述的方法,其中,在检测到物理攻击的情况下,所述方法包括从所述集成电路内的存储器的安全区域中删除数据。

9.一种计算机程序,包括计算机可读指令,当将所述计算机可读指令加载到计算机上时,所述计算机可读指令将所述计算机配置为执行根据权利要求5至8中的任一项所述的方法。

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