[发明专利]一种AEB测试假体目标设备的标定装置

权利要求书

1.一种AEB测试假体目标设备的标定装置，其特征在于，包括：标定物装置、测试装置、承载装置；

所述测试装置，用于通过发射和接收电磁波，采集标定物装置和假体目标的RCS特征，还采集假体目标的测试数据；

所述标定物装置，用于标定假体目标的预先位置，并对测试装置进行预先校准，确认标定物装置和测试装置当前安装位置和周边环境导致的RCS特征误差，以使假体目标在预先位置上进行AEB测试；

所述承载装置，用于承载测试装置或标定物装置，并调整测试装置或标定物装置的位置状态，以使测试装置和标定物装置的位置相互对准，再使测试装置对在预先位置上的假体目标进行AEB测试。

2.根据权利要求1所述的标定装置，其特征在于，所述承载装置包括第一支架，第二支架；所述第一支架与第二支架套接；所述测试装置或标定物装置设置于第一支架上。

3.根据权利要求2所述的标定装置，其特征在于，所述第一支架包括水平尺，固定横梁，高度调节孔，和置于第一支架上端的上平面；

所述第二支架包括与高度调节孔相对应的凸起，调平球头，带锁紧环的调平脚座，和置于第二支架下端的底座；

所述水平尺，为两个，相互垂直置于所述上平面上，用于使测试装置或标定物装置处于水平位置；

所述固定横梁，置于所述第一支架一侧面上，用于固定连接测试装置或标定物装置；

所述高度调节孔，设置在所述第一支架的支柱上；所述凸起，设置在所述第二支架的支柱上；所述高度调节孔与凸起，用于使第一支架与第二支架伸缩后进行套接；

所述调平球头，固定连接于第二支架下端的底座下面，用于与水平尺配合使用，调节测试装置或标定物装置的位置；

所述带锁紧环的调平脚座，用于套接、锁紧与调平球头。

4.根据权利要求3所述的标定装置，其特征在于，所述测试装置通过调节螺柱和带孔平板安装至承载装置的固定横梁上。

5.根据权利要求4所述的标定装置，其特征在于，所述测试装置包括雷达或微波感应传感器，用于利用电磁波探测标定物装置和假体目标。

6.根据权利要求3所述的标定装置，其特征在于，所述标定物装置包括角反射器，所述角反射器通过调平螺栓安装至承载装置的固定横梁上或置于第一支架上端的上平面上。

7.根据权利要求6所述的标定装置，其特征在于，所述角反射器包括至少两个。

8.根据权利要求1所述的标定装置，其特征在于，还包括固定支架，用于稳定承载假体目标，并放置在预先位置进行测试；

所述固定支架包括承载托板、鞍座、拖动块和边缘材料；

所述鞍座固定设置于承载托板上，用于连接假体目标；

所述拖动块固定设置于承载托板上，用于方便拖动固定支架；

所述边缘材料包裹住所述承载托板边缘。

9.根据权利要求8所述的标定装置，其特征在于，所述边缘材料为吸波材料。

10.根据权利要求1所述的标定装置，其特征在于，还包括测试系统仪表，所述测试系统仪表连接测试装置，用于修正标定物装置和测试装置之间的RCS特征误差，以便并对假体目标的测试数据进行分析。