[发明专利]存储单元的擦除验证方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.一种存储单元的擦除验证方法，其特征在于，包括：

在确定产生对存储块的擦除验证需求时，获取所述存储块的当前擦除循环统计结果；

查询与所述当前擦除循环统计结果匹配的擦除验证方式对所述存储块中每个存储单元进行擦除验证。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述查询与所述当前擦除循环统计结果匹配的擦除验证方式，包括：

将所述当前擦除循环统计结果与预设的至少一个擦除循环次数阈值进行比较；

根据比较结果从预设的比较结果与擦除验证方式的对应关系中查询与所述当前擦除循环统计结果匹配的擦除验证方式。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据比较结果从预设的比较结果与擦除验证方式的对应关系中查询与所述当前擦除循环统计结果匹配的擦除验证方式，包括：

如果所述当前擦除循环统计结果小于所述第一循环次数阈值，则确定所述擦除验证方式为字线同时验证方式；

如果所述当前擦除循环统计结果大于等于所述第一循环次数阈值，则确定所述擦除验证方式为字线交替验证方式。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述擦除验证方式为字线交替验证方式，

所述根据比较结果从预设的比较结果与擦除验证方式的对应关系中查询匹配的擦除验证方式，包括：

如果所述当前擦除循环统计结果大于等于所述第一循环次数阈值，且小于预设的第二循环次数阈值，则确定所述擦除验证方式为字线交替验证方式，以及所述字线交替验证方式中施加的读取电压为第一电压；

如果所述当前擦除循环统计结果大于等于所述第二循环次数阈值，则确定所述擦除验证方式为字线交替验证方式，以及所述字线交替验证方式中施加的读取电压为第二电压；

所述第二循环次数阈值大于所述第一循环次数阈值，所述第二电压大于所述第一电压。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定产生对存储块的擦除验证需求，包括：

当所述存储块的擦除状态完成后，确定产生对存储块的擦除验证需求。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当前擦除循环统计结果包括针对所述存储块完成一次擦除校验的次数的统计结果。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在进行擦除验证之后，还包括：

对所述存储块进行编程；

在确定所述存储块需要重新编程时，对所述存储块进行擦除。

8.一种存储单元的擦除验证装置，其特征在于，包括：

当前擦除循环统计结果获取模块，用于在确定产生对存储块的擦除验证需求时，获取所述存储块的当前擦除循环统计结果；

擦除验证模块，用于查询与所述当前擦除循环统计结果匹配的擦除验证方式对所述存储块中每个存储单元进行擦除验证。

9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7中任一所述的存储单元的擦除验证方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的存储单元的擦除验证方法。