[发明专利]温度特性检测方法及其系统、控制器和温度特性检测装置

权利要求书

1.一种温度特性检测方法，其特征在于，应用于包括光源和光电探测器的温度特性检测装置；所述方法包括：

确定被测器件为光源或光电探测器；

控制所述光源、及光电探测器的温度，以拟合出输出温度和探测量的关系曲线；

依据所述关系曲线将不满足对应温度特性要求的光源或光电探测器视为不合格器件。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述温度特性检测装置还包括：与所述光源相连的第一温控单元、与所述光电探测器相连的第二温控单元、及模数转换单元；

所述通过控制所述光源、及光电探测器的温度，以拟合出输出温度和探测量的关系曲线，包括：

当所述光源为被测器件时，通过所述第二温控单元控制所述光电探测器恒温；

通过所述第一温控单元控制所述光源的温度做三角波扫描，并依据所述模数转换单元采集探测量数值；

采用多周期三角波数学平均，将最高温度和最低温度之间线性拟合，并且考虑到温度传递的滞后性只使用中间线性度最好的一段；

光源温度和探测量之间采用最小二乘法拟合，输出温度和探测量之间的关系曲线。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光电传感装置还包括：与所述光源相连的第一温控单元、与所述光电探测器相连的第二温控单元、及模数转换单元；

所述通过控制所述光源、及光电探测器的温度，以拟合出输出温度和探测量的关系曲线，，包括：

当所述光电探测器为被测器件时，通过所述第一温控单元控制所述光源恒温；

通过所述第二温控单元控制所述光电探测器的温度做三角波扫描，并依据所述模数转换单元采集探测量数值；

采用多周期三角波数学平均，将最高温度和最低温度之间线性拟合，并且考虑到温度传递的滞后性只使用中间线性度最好的一段；

光电探测器和探测量之间采用最小二乘法拟合，输出温度和探测量之间的关系曲线。

4.一种温度特性检测系统，其特征在于，所述系统包括：

确定模块，用于确定被测器件为光源或光电探测器；

处理模块，用于控制所述光源、及光电探测器的温度，以拟合出输出温度和探测量的关系曲线；依据所述关系曲线将不满足对应温度特性要求的光源或光电探测器视为不合格器件。

5.一种控制器，其特征在于，所述控制器包括：存储器、及处理器；所述存储器用于存储计算机指令；所述处理器运行计算机指令实现如权利要求1至3中任意一项所述的方法。

6.一种计算机存储介质，其特征在于，存储有计算机程序，所述计算机程序被运行时执行如权利要求1至3中任意一项所述的方法。

7.一种温度特性检测装置，其特征在于，所述装置包括：光源、信号放大电路、模数转换单元、第一温控单元、第二温控单元、及如权利要求5所述的控制器；

所述光源用于发出测量光到所述光电探测器上；所述光电探测器用于将接收所述测量光的光信号转换为电信号；所述电信号经所述信号放大电路的放大、及所述模数转换单元的转换得到数字信号；

所述第一温控单元、及第二温控单元，用于依据所述控制器发送的目标温度实现温度控制，并获取真实温度传送给所述控制器；

所述控制器用于通过数字信号连接所述第一温控单元、及第二温控单元，以分别向其发送光源的目标温度并获取当前温度。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一温控单元包括：TEC器件、驱动电路、热敏电阻、散热片、及导热结构；其中，

所述TEC器件的一面连接所述散热片，另一面作为工作面通过所述导热结构与所述光源紧密相连；

所述驱动电路在接收到所述控制器通过数字信号发送的目标温度后，控制所述TEC器件在其所述工作面达到所述目标温度；

所述热敏电阻紧密贴合所述导热结构，其探测的温度表征所述光源的真实温度通过数字量传送给所述控制器。