[发明专利]温度特性检测方法及其系统、控制器和温度特性检测装置

说明书

本申请提供的一种温度特性检测方法及其系统、控制器和温度特性检测装置，通过确定被测器件为光源或光电探测器；控制所述光源、及光电探测器的温度，以拟合出输出温度和探测量的关系曲线；依据所述关系曲线将不满足对应温度特性要求的光源或光电探测器视为不合格器件。本申请能够作为单独的实验设备用于光源和光电探测器的器件筛选、温度老化实验、以及输出温度性能曲线，可以达到最佳的性价比。

技术领域

本申请涉及光电传感技术领域，特别是涉及一种温度特性检测方法及其系统、控制器和温度特性检测装置。

背景技术

在光电探测领域用到的光源和光电探测器，其性能都是随温度变化的。如果光源和光电探测器的使用时间较长，可能出现器件温度老化等问题。为此，需要一种能够简便的实验设备以用于光源和光电探测器的器件筛选、温度老化实验、以及输出温度性能曲线。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本申请的目的在于提供一种温度特性检测方法及其系统、控制器和温度特性检测装置，以解决现有技术中的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本申请提供一种温度特性检测方法，应用于包括光源和光电探测器的温度特性检测装置；所述方法包括：确定被测器件为光源或光电探测器；控制所述光源、及光电探测器的温度，以拟合出输出温度和探测量的关系曲线；依据所述关系曲线将不满足对应温度特性要求的光源或光电探测器视为不合格器件。

于本申请的一实施例中，所述温度特性检测装置还包括：与所述光源相连的第一温控单元、与所述光电探测器相连的第二温控单元、及模数转换单元；所述通过控制所述光源、及光电探测器的温度，以拟合出输出温度和探测量的关系曲线，包括：当所述光源为被测器件时，通过所述第二温控单元控制所述光电探测器恒温；通过所述第一温控单元控制所述光源的温度做三角波扫描，并依据所述模数转换单元采集探测量数值；采用多周期三角波数学平均，将最高温度和最低温度之间线性拟合，并且考虑到温度传递的滞后性只使用中间线性度最好的一段；光源温度和探测量之间采用最小二乘法拟合，输出温度和探测量之间的关系曲线。

于本申请的一实施例中，所述光电传感装置还包括：与所述光源相连的第一温控单元、与所述光电探测器相连的第二温控单元、及模数转换单元；所述通过控制所述光源、及光电探测器的温度，以拟合出输出温度和探测量的关系曲线，，包括：当所述光电探测器为被测器件时，通过所述第一温控单元控制所述光源恒温；通过所述第二温控单元控制所述光电探测器的温度做三角波扫描，并依据所述模数转换单元采集探测量数值；采用多周期三角波数学平均，将最高温度和最低温度之间线性拟合，并且考虑到温度传递的滞后性只使用中间线性度最好的一段；光电探测器和探测量之间采用最小二乘法拟合，输出温度和探测量之间的关系曲线。

为实现上述目的及其他相关目的，本申请提供一种温度特性检测系统，其特征在于，所述系统包括：确定模块，用于确定被测器件为光源或光电探测器；处理模块，用于控制所述光源、及光电探测器的温度，以拟合出输出温度和探测量的关系曲线；依据所述关系曲线将不满足对应温度特性要求的光源或光电探测器视为不合格器件。

为实现上述目的及其他相关目的，本申请提供一种控制器，所述控制器包括：存储器、及处理器；所述存储器用于存储计算机指令；所述处理器运行计算机指令实现如上所述的方法。

为实现上述目的及其他相关目的，本申请提供一种计算机存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被运行时执行如上所述的方法。