[发明专利]字线脉冲电路、字线脉冲侦测方法、读方法、芯片及设备

说明书

本发明实施例提供一种字线脉冲电路、字线脉冲侦测方法、读方法、芯片及设备，其中电路包括：脉冲选项控制电路用于，在测试模式下，对多个脉冲宽度选项进行遍历，针对每一遍历到的脉冲宽度选项，输出对应的字线脉冲生成控制信号；字线脉冲生成器用于，基于字线脉冲生成控制信号，生成对应的字线脉冲；读操作侦测电路用于，基于字线脉冲，对存储阵列进行读操作测试，从多个脉冲宽度选项中确定使存储阵列读操作成功的最小脉冲宽度选项，将最小脉冲宽度选项反馈给所述脉冲选项控制电路，以使脉冲选项控制电路进行存储。本发明实施例可以合理的设置读操作时的字线脉冲，为降低存储器读操作的功耗提供基础。

技术领域

本发明实施例涉及存储器技术领域，具体涉及一种字线脉冲电路、字线脉冲侦测方法、读方法、芯片及设备。

背景技术

存储器是芯片中用于存储数据的器件，其主要体现为存储阵列的形式；存储阵列是由多个存储单元构成的阵列结构，其中，存储单元作为存储数据的基本单元结构，每个存储单元都能进行数据存储。

在对存储器进行读写操作时，需要由字线脉冲进行控制，具体的，字线管控存储单元的读写，当字线脉冲有效时，存储单元进行读或写操作，当字线脉冲失效时，存储单元保持原来的数据。随着芯片低功耗的要求越来越高，如何合理的设置存储器读操作时的字线脉冲，为降低存储器读操作的功耗提供基础，成为了本领域技术人员亟需解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种字线脉冲电路、字线脉冲侦测方法、读方法、芯片及设备，以合理的设置存储器读操作时的字线脉冲，为降低存储器读操作的功耗提供基础。

为解决上述问题，本发明实施例提供如下技术方案：

一种字线脉冲电路，包括：脉冲选项控制电路，字线脉冲生成器，和读操作侦测电路；其中，所述脉冲选项控制电路预记录多个脉冲宽度选项，一个脉冲宽度选项记录一个脉冲宽度；

所述脉冲选项控制电路用于，在测试模式下，对所述多个脉冲宽度选项进行遍历，针对每一遍历到的脉冲宽度选项，向所述字线脉冲生成器输出对应的字线脉冲生成控制信号；

所述字线脉冲生成器用于，在测试模式下，基于所述脉冲选项控制电路输出的字线脉冲生成控制信号，生成对应的字线脉冲；

所述读操作侦测电路用于，基于所述字线脉冲生成器生成的字线脉冲，对存储阵列进行读操作测试，从所述多个脉冲宽度选项中确定使存储阵列读操作成功的最小脉冲宽度选项，将所述最小脉冲宽度选项反馈给所述脉冲选项控制电路，以使所述脉冲选项控制电路存储所述最小脉冲宽度选项。

可选的，所述读操作侦测电路用于，基于所述字线脉冲生成器生成的字线脉冲，对存储阵列进行读操作测试，包括：

基于所述字线脉冲生成器生成的字线脉冲，对存储阵列边角的存储单元进行读操作测试；

所述读操作侦测电路用于从所述多个脉冲宽度选项中确定使存储阵列读操作成功的最小脉冲宽度选项，包括：

从所述多个脉冲宽度选项中确定使存储阵列边角的存储单元均读操作成功的最小脉冲宽度选项。

可选的，所述脉冲选项控制电路用于，在测试模式下，对所述多个脉冲宽度选项进行遍历包括：

在测试模式下，按照脉冲宽度选项由小至大的顺序，对所述多个脉冲宽度选项进行遍历，直至获取到所述读操作侦测电路反馈的最小脉冲宽度选项。

可选的，所述读操作侦测电路用于，基于所述字线脉冲生成器生成的字线脉冲，对存储阵列进行读操作测试，包括：

针对所述字线脉冲生成器每一次生成的字线脉冲，对存储阵列进行读操作测试，直至基于所述字线脉冲生成器当前生成的字线脉冲，测试所述存储阵列读操作成功；