[发明专利]用于x射线检查的系统和方法

权利要求书

1.一种用于x射线检查的系统(10)，所述系统(10)包括：

x射线发射器(12)；

x射线传感器阵列(26)，包括：

第一x射线传感器(27)；

与所述第一x射线传感器(27)相邻的第二x射线传感器(28)；以及

耦接器(302/304)，能移动地将所述第一x射线传感器(27)耦接到所述第二x射线传感器(28)，其中，所述第一x射线传感器(27)能经由所述耦接器(302/304)相对于所述第二x射线传感器(28)移动到多个方位；以及

成像装置(40)，基于来自所述x射线传感器阵列(26)的信息生成检查图像。

2.根据权利要求1所述的系统(10)，其中，所述x射线传感器阵列(26)被配置为检测背散射的x射线(32)。

3.根据权利要求1所述的系统(10)，其中，所述x射线传感器阵列(26)被配置为检测直通x射线(34)。

4.根据权利要求1所述的系统(10)，其中，所述第二x射线传感器(28)能经由所述耦接器(302/304)相对于所述第一x射线传感器(27)沿第一维度(102)调节，并且所述x射线传感器阵列(26)还包括第三x射线传感器(25)，所述第三x射线传感器(25)能经由第二耦接器(304)相对于所述第一x射线传感器(27)沿与所述第一维度(102)偏移的第二维度(104)调节，所述第二耦接器(304)能移动地耦接所述第一x射线传感器(27)和所述第三x射线传感器(25)。

5.根据权利要求4所述的系统(10)，其中，所述x射线传感器阵列(26)在三个维度上是能调节的。

6.根据权利要求1所述的系统(10)，其中，所述第一x射线传感器(27)和所述第二x射线传感器(28)中的至少一者包括转换边界传感器。

7.根据权利要求1所述的系统(10)，其中，所述耦接器(302/304)是能响应于目标结构(30)的几何形状自动调节的。

8.一种用于x射线检查的方法，所述方法包括：

相对于目标结构(30)定位x射线发射器(12)；

使包括多个能移动地互连的x射线传感器(25、27、28)的x射线传感器阵列(26)成形，以互补所述目标结构(30)的形状；

在所述x射线传感器阵列(26)处检测来自所述目标结构(30)的x射线；以及

基于来自所述x射线传感器阵列(26)的信息生成所述目标结构(30)的检查图像。

9.根据权利要求8所述的方法，还包括响应于所述目标结构(30)的形状的变化而对所述x射线传感器阵列(26)重新成形。

10.根据权利要求8所述的方法，其中，使所述x射线传感器阵列(26)成形包括：沿第一维度(102)和第二维度(104)定向多个x射线传感器(25、27、28)。