[发明专利]用于x射线检查的系统和方法

说明书

本文公开了用于x射线检查的系统和方法。用于x射线检查的系统包括x射线发射器。该系统还包括x射线传感器阵列，该x射线传感器阵列包括第一x射线传感器、与第一x射线传感器相邻的第二x射线传感器，以及能移动地将第一x射线传感器耦接到第二x射线传感器的耦接器。第一x射线传感器能经由耦接器相对于第二x射线传感器移动到多个方位。该系统还包括成像装置，以基于来自x射线传感器阵列的信息来生成检查图像。

技术领域

本公开大体上涉及x射线检查，并且更具体地涉及用于能调节地检测x射线的装置、系统和方法。

背景技术

当不希望破坏待检查的零件时，可以采用一些检查技术，诸如无损测试、异物检测、非现场检查等。某些x射线检查技术可对零件进行穿透式扫描或检查。这种x射线检查技术被用于多种应用中，诸如国土安全，油气开采和精炼，管道检查，运输，汽车，航空航天，海洋，采矿，运输和存储等。

一些x射线检查技术利用从零件的一侧到零件的相对侧穿过零件的x射线的检测。在诸如x射线背散射技术的其他检查技术中，从零件反射回来的x射线(例如，背散射的x射线)被检测，然后用于产生零件的图像或分析。x射线的图案和强度取决于零件的材料和组织。因此，所检测到的x射线的图案和强度可以用于生成图像，该图像被用来确定零件的质量、特征或异常。

发明内容

响应于当前的技术水平，特别是响应于尚未被当前可用的技术完全解决的传统x射线检查装置的缺点，本申请的主题已经被开发出来。因此，已经开发了本申请的主题以提供可克服现有技术的至少一些缺点的能调节的多方位x射线传感器阵列以及相关的装置、系统和方法。

本文公开了一种用于x射线检查的系统。该系统包括x射线发射器。该系统还包括x射线传感器阵列，该x射线传感器阵列包括第一x射线传感器、与第一x射线传感器相邻的第二x射线传感器，以及能移动地将第一x射线传感器耦接到第二x射线传感器的耦接器。第一x射线传感器能经由耦接器相对于第二x射线传感器移动到多个方位。该系统还包括成像装置，以基于来自x射线传感器阵列的信息来生成检查图像。本段的前述主题表征本公开的示例1。

x射线传感器阵列被配置为检测背散射的x射线。本段的前述主题表征本公开的示例2，其中，示例2还包括根据上面的示例1的主题。

x射线传感器阵列被配置为检测直通x射线。本段的前述主题表征本公开的示例3，其中，示例3还包括根据以上示例1-2中的任何一者的主题。

第二x射线传感器能经由耦接器相对于第一x射线传感器沿第一维度调节。x射线传感器阵列还包括第三x射线传感器，该第三x射线传感器能经由第二耦接器相对于第一x射线传感器沿与第一维度偏移的第二维度调节，第二耦接器能移动地耦接第一x射线传感器和第三x射线传感器。本段的前述主题表征本公开的示例4，其中，示例4还包括根据以上示例1-3中的任何一者的主题。

x射线传感器阵列可在三个维度上调节。本段的前述主题表征本公开的示例5，其中，示例5还包括根据上面的示例4的主题。

第一x射线传感器或第二x射线传感器中的至少一者包括转换边界传感器。本段的前述主题表征本公开的示例6，其中，示例6还包括根据以上示例1-5中的任何一者的主题。

第一x射线传感器和第二x射线传感器中的至少一者包括超导体材料。本段的前述主题表征本公开的示例7，其中，示例7还包括根据上面的示例6的主题。

第一x射线传感器和第二x射线传感器中的至少一者包括闪烁体层。本段的前述主题表征本公开的示例8，其中，示例8还包括根据以上示例1-7中的任何一者的主题。

x射线发射器被配置为光栅发射的x射线。本段的前述主题表征本公开的示例9，其中，示例9还包括根据以上示例1-8中的任何一者的主题。

耦接器可手动调节。本段的前述主题表征本公开的示例10，其中，示例10还包括根据以上示例1-9中的任何一者的主题。