[发明专利]温升测试系统和测试方法

权利要求书

1.一种温升测试系统，其特征在于，包括：

温度传感器，用于检测被测试元件所在环境的温度值；

检测电路，用于在所述被测试元件通电后，检测所述被测试元件的电路参数值；

处理电路，用于根据所述电路参数值获取所述被测试元件的电阻值，并根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。

2.根据权利要求1所述的温升测试系统，其特征在于，还包括：

供电回路，为所述被测试元件供电，所述被测试元件串联在所述供电回路上；

继电器，串联在所述供电回路上，用于控制所述供电回路的通断。

3.根据权利要求2所述的温升测试系统，其特征在于，所述供电回路包括：

电源，为所述被测试元件直接提供目标电压；或者，

电源和调压器，所述调压器用于将所述电源提供的电压调节到目标电压，并将所述目标电压施加到所述被测试元件上。

4.根据权利要求1所述的温升测试系统，其特征在于，所述检测电路包括：

电流传感器，与所述被测试元件串联，用于检测所述被测试元件上流经的电流值；或者，

电阻传感器，用于检测所述被测试元件的电阻值。

5.根据权利要求4所述的温升测试系统，其特征在于，若所述检测电路包括电流传感器，所述处理电路具体用于：

根据预设的目标电压值以及所述电流传感器检测得到的所述电流值，计算得到所述被测试元件的电阻值，并根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。

6.根据权利要求4所述的温升测试系统，其特征在于，若所述检测电路包括电阻传感器，所述处理电路具体用于：

将所述电阻传感器检测得到的所述电阻值，直接确定为所述被测试元件的电阻值，并根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。

7.根据权利要求1所述的温升测试系统，其特征在于，所述温度值包括第一温度值，所述电阻值包括第一电阻值，所述第一温度值和所述第一电阻值分别为所述被测试元件在通电前的温度值和电阻值，所述处理电路进一步具体用于：

获取第二温度值和第二电阻值，所述第二温度值和所述第二电阻值分别是所述被测试元件的电阻值满足预设的电阻稳定条件时的温度值和电阻值；

根据所述第二温度值、所述第二电阻值、所述第一温度值和所述第一电阻值，采用预设的温升计算公式，计算得到所述被测试元件的温升值。

8.根据权利要求7所述的温升测试系统，其特征在于，所述处理电路用于获取第二温度值和第二电阻值具体包括：

从所述被测试元件通电时间达到预设的测试时间阈值开始，按照预设检测周期，定期检测当前温度和电阻值分别作为当前温度值和当前电阻值；

若当前电阻值与上次检测得到的电阻值满足预设的电阻稳定条件，则将所述当前电阻值和所述当前温度值分别作为第二电阻值和第二温度值。

9.根据权利要求1-7任一项所述的温升测试系统，其特征在于，还包括：

显示屏，与所述处理电路连接，用于显示所述电路参数值、所述电阻值、所述温度值、所述温升值中的一项或多项；和/或，

所述处理电路还用于根据所述温升值判断所述被测试元件是否合格；和/或，所述显示屏还用于显示所述判断结果；和/或，

报警器，与所述处理电路连接，用于在所述处理电路得到所述温升值后提醒用户；和/或，

被测试元件为电磁线圈；和/或，

所述处理电路为：PLC。

10.一种温升测试方法，其特征在于，包括：

获取被测试元件所在环境的温度值；

获取被测试元件的电路参数值，根据所述电路参数值获取所述被测试元件的电阻值；

根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。