[发明专利]温升测试系统和测试方法

说明书

本申请涉及一种温升测试系统和测试方法，温升测试系统包括温度传感器，用于检测被测试元件所在环境的温度值；检测电路，用于在被测试元件通电后，检测被测试元件的电路参数值；处理电路，用于根据电路参数值获取被测试元件的电阻值，并根据电阻值和温度值，确定被测试元件的温升值。本申请无需测试人员对试验过程进行全程监控和操作，实现测试系统自动化，并且由于全程不需拆卸被测试元件，可以提升温升值测量的准确度，提高温升试验效率。

技术领域

本申请属于测试技术领域，具体涉及温升测试系统和测试方法。

背景技术

电磁线圈是四通阀工作时换向的一个重要零件，电磁线圈内部为漆包线缠绕，外部为绝缘材料塑封而成，电磁线圈通电时产生磁性，吸引先导阀内部芯铁移动，四通阀连接管路发生换向，断电时先导阀内部芯铁回到原来位置。因此，在应用电磁线圈的设备如四通阀前，对电磁线圈进行安全试验非常必要，而温升试验是电磁线圈的安全试验中一种不可或缺的试验，电磁线圈的温升情况直接影响着应用电磁线圈的设备的工作强度与工作寿命。

相关技术中，通过万用表来进行温升试验测量电磁线圈温升情况，但这种方法需要在电磁线圈通电后断电，取下电磁线圈后用万用表测量电磁线圈电阻,由于断开回路取下电磁线圈对取下电磁线圈的阻值有影响，因此这种温升测量方法不仅影响电磁线圈的温升测量准确度，还影响试验效果。

发明内容

为至少在一定程度上克服通过万用表来进行温升试验测量电磁线圈温升影响电磁线圈的温升测量准确度，影响试验效果的问题，本申请提供温升测试系统和测试方法。

第一方面，一种温升测试系统，包括：

温度传感器，用于检测被测试元件所在环境的温度值；

检测电路，用于在所述被测试元件通电后，检测所述被测试元件的电路参数值；

处理电路，用于根据所述电路参数值获取所述被测试元件的电阻值，并根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。

进一步的，所述系统还包括：

供电回路，为所述被测试元件供电，所述被测试元件串联在所述供电回路上；

继电器，串联在所述供电回路上，用于控制所述供电回路的通断。

进一步的，所述供电回路包括：

电源，为所述被测试元件直接提供目标电压；或者，

电源和调压器，所述调压器用于将所述电源提供的电压调节到目标电压，并将所述目标电压施加到所述被测试元件上。

进一步的，所述检测电路包括：

电流传感器，与所述被测试元件串联，用于检测所述被测试元件上流经的电流值；或者，

电阻传感器，用于检测所述被测试元件的电阻值。

进一步的，若所述检测电路包括电流传感器，所述处理电路具体用于：

根据预设的目标电压值以及所述电流传感器检测得到的所述电流值，计算得到所述被测试元件的电阻值，并根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。

进一步的，若所述检测电路包括电阻传感器，所述处理电路具体用于：

将所述电阻传感器检测得到的所述电阻值，直接确定为所述被测试元件的电阻值，并根据所述电阻值和所述温度值，确定所述被测试元件的温升值。

进一步的，所述温度值包括第一温度值，所述电阻值包括第一电阻值，所述第一温度值和所述第一电阻值分别为所述被测试元件在通电前的温度值和电阻值，所述处理电路进一步具体用于：