[发明专利]一种射频集成电路近场电磁兼容性测试设备及其测试方法

权利要求书

1.一种射频集成电路近场电磁兼容性测试设备的测试方法，所述设备包括电磁屏蔽壳体（1）、近场探头（2）、被测电路安装台（3），其特征在于：所述电磁屏蔽壳体（1）为矩形空腔结构，由顶盖（1-1）开合，在电磁屏蔽壳体（1）的侧面，分别设有电源线孔（1-2）和信号线孔（1-3），在电磁屏蔽壳体（1）顶盖（1-1）中心处设有探头线缆孔（1-4）；所述近场探头（2）垂直的固定在顶盖（1-1）内面探头线缆孔（1-4）的下方，用以接收或者发射电磁干扰信号；

所述被测电路安装台（3）为矩形，设置在电磁屏蔽壳体（1）内底部位置，用以固定被测射频集成电路板（4）；

测试射频集成电路近场发射电磁干扰的步骤如下：

步骤一：打开电磁屏蔽壳体（1）顶盖（1-1），将被测电路安装台（3）放置于电磁屏蔽壳体（1）内的底部位置，将被测射频集成电路板（4）放置于被测电路安装台（3）上，移动被测电路安装台（3），保证测试时近场探头（2）正对被测射频集成电路；

步骤二：根据测试目标，将被测射频集成电路板（4）电源线由电源线孔（1-2）穿出连接电源；

步骤三：盖好电磁屏蔽壳体（1）顶盖（1-1），将近场探头（2）的连接线缆由顶盖（1-1）探头线缆孔（1-4）穿出与外部示波器或者频谱仪连接；

步骤四：接通被测射频集成电路板（4）及外部示波器或者频谱仪的电源，使射频集成电路板（4）正常工作，示波器或者频谱仪通过连接近场探头（2）接收被测射频集成电路向外辐射的电磁干扰信号；

步骤五：选择不同高度的被测电路安装台（3），改变近场探头（2）与被测射频集成电路板（4）之间的距离，记录近场探头（2）与被测射频集成电路板（4）之间的距离以及示波器或者频谱仪上显示信号的变化，得到被测射频集成电路对外辐射电磁干扰的干扰范围和强度；

测试射频集成电路近场电磁敏感性的步骤如下：

步骤一：打开电磁屏蔽壳体（1）顶盖（1-1），将被测电路安装台（3）放置于电磁屏蔽壳体（1）内的底部位置，将被测射频集成电路板（4）放置于被测电路安装台（3）上，移动被测电路安装台（3），保证测试时近场探头（2）正对被测射频集成电路；

步骤二：根据测试目标，将被测射频集成电路板（4）电源线由电源线孔（1-2）穿出连接电源，将被测射频集成电路板（4）的被监测线缆由信号线孔（1-3）穿出连接示波器或者频谱仪；

步骤三：盖好所述电磁屏蔽壳体（1）顶盖（1-1），将近场探头（2）的连接线缆由顶盖（1-1）探头线缆孔（1-4）穿出与外部射频信号发生器连接，射频信号发生器向被测射频集成电路发射电磁干扰信号；

步骤四：接通被测射频集成电路板（4）及示波器或者频谱仪的电源，观察示波器或者频谱仪，记录示波器或者频谱仪上此时无外部电磁干扰时的信号；

步骤五：接通外部射频信号发生器电源，设定射频发生器产生信号的频率和功率，由近场探头（2）向被测射频集成电路辐射电磁干扰，观察示波器或者频谱仪显示的信号，即观察示波器的信号特征是否出现改变或者频谱仪的信号是否出现近场探头发射的射频信号频率，来确定被测射频集成电路是否受干扰，如果示波器信号特征出现改变或者频谱仪的信号频谱出现近场探头发射的射频信号频率，即可确定被测射频集成电路受到干扰并记录；

步骤六：根据被测射频集成电路所在环境中存在的电磁干扰类型，调节外部射频信号发生器的信号频率和功率，重复进行步骤五，得到被测射频集成电路的近场电磁敏感性阈值；

步骤七：选择不同高度的被测电路安装台（3），改变近场探头（2）与被测射频集成电路之间的距离，重复步骤一到步骤六，观察示波器或者频谱仪上信号是否出现干扰，确定被测射频集成电路的受干扰范围与敏感性阈值。