[发明专利]一种连续测试的集成电路封装测试装置

权利要求书

1.一种连续测试的集成电路封装测试装置，其特征在于：包括支架(10)和连续测试装置(20)；支架(10)为中部成型有上下贯穿的矩形槽状的测试槽(100)的长方体；测试槽(100)的左右侧壁上端分别成型有一对前后对称设置的前后阻挡块(11)；左侧的一对前后阻挡块(11)和右侧的一对前后阻挡块(11)之间通过分隔板(12)连成一体；连续测试装置(20)包括矩形框状的测试支架(21)；测试支架(21)的前后侧壁位于一对前后阻挡块(11)和分隔板(12)的前后两侧、上下侧壁分别位于一对前后阻挡块(11)和分隔板(12)的上下两侧；测试支架(21)左右往复移动设置在测试槽(100)的前后侧壁之间；测试支架(21)的下侧壁的上端面上升降设置有测试支撑板(24)；测试支撑板(24)位于一对前后阻挡块(11)和分隔板(12)的下侧；测试支撑板(24)的上端面上成型有若干均匀分布的探针(25)；分隔板(12)与测试槽(100)的左右侧壁之间分别旋转设置有下支撑板(27)；当下支撑板(27)处于水平状态时，前侧和后侧的下支撑板(27)靠近的端面位于前侧和后侧的前后阻挡块(11)的靠近的端面之间；当下支撑板(27)竖直向下时，前侧和后侧的下支撑板(27)靠近的端面分别与前侧和后侧的前后阻挡块(11)的靠近的端面平齐。

2.根据权利要求1所述的一种连续测试的集成电路封装测试装置，其特征在于：测试槽(100)的前后侧壁上部分别成型有左右滑行槽(102)；左右滑行槽(102)的左右侧壁之间枢接有左右驱动螺纹杆(28)；左右滑行槽(102)的左侧壁上固定有左右驱动电机(281)；左右驱动螺纹杆(28)的左端与左右驱动电机(281)的输出轴固定连接；测试支架(21)的前后端面上分别成型有与左右滑行槽(102)配合的左右滑行块(211)；左右滑行块(211)左右滑行设置在左右滑行槽(102)内并且螺接在相应侧的左右驱动螺纹杆(28)上。

3.根据权利要求1所述的一种连续测试的集成电路封装测试装置，其特征在于：测试槽(100)的左右侧壁上分别固定有一对前后对称设置的摆动驱动电机(271)；摆动驱动电机(271)与相应侧的下支撑板(27)的旋转中心轴固定连接；左侧的一对摆动驱动电机(271)同步联动；右侧的一对摆动驱动电机(271)同步联动。

4.根据权利要求1所述的一种连续测试的集成电路封装测试装置，其特征在于：测试支架(21)的下端面上固定有升降气缸(22)；升降气缸(22)的活塞杆上端固定有升降下支撑板(23)；升降下支撑板(23)位于测试支撑板(24)和测试槽(100)的下侧壁之间；测试支撑板(24)的下端面上成型有若干竖直设置的升降插杆(241)；升降插杆(241)自上而下竖直穿过升降下支撑板(23)；升降插杆(241)上套设有压簧(26)；压簧(26)的上端固定在测试支撑板(24)的下端面上、下端固定在升降下支撑板(23)的上端面上。

5.根据权利要求1所述的一种连续测试的集成电路封装测试装置，其特征在于：测试槽(100)的左右侧壁下端成型有左右贯穿的传送槽(101)；一对传送槽(101)内左右设置有传送带(30)；传送带(30)用于把测试不合格的集成电路封装输出。

6.根据权利要求1所述的一种连续测试的集成电路封装测试装置，其特征在于：测试支架(21)的上侧壁的下端面与支架(10)的上端面平齐。