[发明专利]一种在FPGA中模拟储存器掉电的方法有效
申请号: | 201911263605.9 | 申请日: | 2019-12-11 |
公开(公告)号: | CN111078486B | 公开(公告)日: | 2022-05-24 |
发明(设计)人: | 刘小卫 | 申请(专利权)人: | 成都华大九天科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26;G06F30/20 |
代理公司: | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人: | 王金双 |
地址: | 610200 四川省成都*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 fpga 模拟 储存器 掉电 方法 | ||
1.一种在FPGA中模拟储存器掉电的方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)根据设置的掉电存储器地址数目阈值决定是否选择FPGA中的信息存储器对掉电存储器的信息进行存储;
所述步骤1)进一步包括,当掉电存储器地址数目大于所述阈值时,选择信息存储器对掉电存储器的信息进行存储;
2)在所述掉电存储器为掉电状态时,利用关电开关信号使所述信息存储器复位到掉电状态;
3)在所述掉电存储器为写操作时,更新所述信息存储器中的地址状态信息;
4)当所述信息存储器中的地址状态信息为1时,读出上一次写入的数据,否则读出随机数据或0。
2.根据权利要求1所述的在FPGA中模拟储存器掉电的方法,其特征在于,所述步骤1)进一步包括:
根据掉电存储器的地址总线宽度,得到信息存储器数据的宽度;
根据信息存储器的地址宽度,得到信息存储器总信息存储。
3.根据权利要求2所述的在FPGA中模拟储存器掉电的方法,其特征在于,
设所述掉电存储器地址总线宽度为N,所述信息存储器数据的宽度为2的K次方(KN),所述信息存储器的地址宽度为A=N-K,则所述信息存储器总信息存储为: 2(N-K)x 2K= 2N。
4.根据权利要求1所述的在FPGA中模拟储存器掉电的方法,其特征在于,所述信息存储器的地址数目与所述掉电存储器的地址数目相匹配。
5.根据权利要求1所述的在FPGA中模拟储存器掉电的方法,其特征在于,在所述步骤2)之前还包括,
初次上电时,所述掉电存储器对所述信息存储器进行初始化操作,使其值保持全0或1。
6.根据权利要求1所述的在FPGA中模拟储存器掉电的方法,其特征在于,所述步骤2)进一步包括,掉电时,所述掉电存储器发送掉电信号,所述信息存储器接收所述掉电信号进行复位。
7.根据权利要求1所述的在FPGA中模拟储存器掉电的方法,其特征在于,在所述步骤4)之前,还包括,读取所述掉电存储器的数据时,在T0时刻发送读取指令,在T0_F时刻使用与源时钟反相的时钟采样所述读取指令,并读取所述信息存储器的存储信息。
8.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机指令,其特征在于,所述计算机指令运行时执行权利要求1至7任一项所述的在FPGA中模拟储存器掉电的方法步骤。
9.一种在FPGA中模拟储存器掉电的设备,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机指令,所述处理器运行所述计算机指令时执行权利要求1至7任一项所述的在FPGA中模拟储存器掉电的方法步骤。
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