[发明专利]基于动态零点补偿电路的电子器件在审

专利信息
申请号: 201911266276.3 申请日: 2019-12-11
公开(公告)号: CN110888483A 公开(公告)日: 2020-03-17
发明(设计)人: 弋敏 申请(专利权)人: 思瑞浦微电子科技(苏州)股份有限公司
主分类号: G05F1/56 分类号: G05F1/56
代理公司: 苏州三英知识产权代理有限公司 32412 代理人: 周仁青
地址: 215123 江苏省苏州市苏州工*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 基于 动态 零点 补偿 电路 电子器件
【说明书】:

发明揭示了一种基于动态零点补偿电路的电子器件,所述电子器件包括运放第一级单元、动态零点补偿单元、运放Class AB输出级单元、及负载单元,所述运放Class AB输出级单元包括位于N通道中的NMOS管和位于P通道中的PMOS管,所述动态零点补偿单元包括位于N通道中且串联设置的MOS管Ma及第一电容C1、及位于P通道中且串联设置的MOS管Mb及第二电容C2,其中,MOS管Ma为PMOS管,MOS管Mb为NMOS管,所述NMOS管的源极与第一电容C1分别与基准电位相连。本发明通过优化动态零点补偿电路,对MOS管和电容进行优化,可有效避免寄生电容产生的极点问题,同时可增强原有的零点,且输出大电流时不会产生额外的功耗;电路结构简单,降低了整体电路的复杂度,减小了电路成本。

技术领域

本发明属于电路技术领域,具体涉及一种基于动态零点补偿电路的电子器件。

背景技术

参图1所示为现有技术中电子器件的电路图,该电子器件为class AB输出,其包括运放第一级单元10’、动态零点补偿单元20’、运放Class AB输出级单元30’、负载单元40’,其中,运放Class AB输出级单元30’包括位于N通道中的MOS管M13和位于P通道中的MOS管M14,M13为NMOS管,M14为PMOS管。动态零点补偿单元20’与MOS管M13和MOS管M14相连,MOS管Ma为NMOS管,R1为Ma导通时的电阻,电容C1与MOS管M13的栅极相连,MOS管Ma的源极与MOS管M13的源极相连,且MOS管M13的源极接地,MOS管Mb为PMOS管,R2为Mb导通时的电阻,电容C2与MOS管M14的栅极相连,MOS管Mb的源极与MOS管M14的源极相连。

现有技术中动态零点补偿单元通过检测N通道和P通道的电流,使Ma导通电阻产生对应R1,产生一个1/(2π*R1*C1)动态零点对LDO进行补偿。然而,该补偿具有下述缺点:

(1)一般情况下各种类型的电容到地都会寄生电容,甚至有的寄生电容可以达到自身容值的1/3,由于电容C1和C2没有直接连接到地,C1的上下级板到地的寄生电容和R1会产生一个极点,那么该极点会影响动态零点的补偿效果;

(2)由于通过镜像的方式产生动态零点,当输出有大电流时,自身的功耗将会增加。

因此,针对上述技术问题,有必要提供一种基于动态零点补偿电路的电子器件。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于动态零点补偿电路的电子器件,以解决补偿电容中产生的寄生电容产生极点的问题。

为了实现上述目的,本发明一实施例提供的技术方案如下:

一种基于动态零点补偿电路的电子器件,所述电子器件包括运放第一级单元、动态零点补偿单元、运放Class AB输出级单元、及负载单元,所述运放Class AB输出级单元包括位于N通道中的NMOS管和位于P通道中的PMOS管,所述动态零点补偿单元包括位于N通道中且串联设置的MOS管Ma及第一电容C1、及位于P通道中且串联设置的MOS管Mb及第二电容C2,其中,MOS管Ma为PMOS管,MOS管Mb为NMOS管,所述NMOS管的源极与第一电容C1分别与基准电位相连,NMOS管的栅极与MOS管Ma的源极相连,MOS管Ma的漏极与第一电容C1相连,所述PMOS管的源极与第二电容C2相连,PMOS管的栅极与MOS管Mb的源极相连,MOS管Mb的漏极与第二电容C2相连。

一实施例中,所述MOS管Ma的栅极施加有栅极电压Va,MOS管Mb的栅极施加有栅极电压Vb,栅极电压Va和Vb分别用于驱动MOS管Ma和MOS管Mb。

一实施例中,所述动态零点补偿单元用于产生一个1/(2π*R1*C1)的动态零点进行补偿。

一实施例中,所述基准电位为GND电位。

一实施例中,所述第一电容C1和第二电容C2还用于增强原有的零点。

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