[发明专利]具有电容失配校正功能的逐次逼近型模数转换器有效
申请号: | 201911268697.X | 申请日: | 2019-12-11 |
公开(公告)号: | CN111431529B | 公开(公告)日: | 2023-06-06 |
发明(设计)人: | 杜翎;李昌红;吴霜毅 | 申请(专利权)人: | 成都铭科思微电子技术有限责任公司 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10 |
代理公司: | 成都其高专利代理事务所(特殊普通合伙) 51244 | 代理人: | 贾波 |
地址: | 610000 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 电容 失配 校正 功能 逐次 逼近 型模数 转换器 | ||
1.具有电容失配校正功能的逐次逼近型模数转换器,其特征在于:设置有P端DAC(102)、N端DAC(104)、比较器(106)、SAR逻辑电路(108)、校正逻辑电路(110)及校正控制电路(112),所述P端DAC(102)的输出端和N端DAC(104)的输出端分别连接比较器(106)的两个输入端,比较器(106)的输出连接接SAR逻辑电路(108),SAR逻辑电路(108)控制连接P端DAC(102)、N端DAC(104)及校正逻辑电路(110),校正控制电路(112)控制连接SAR逻辑电路(108)和校正逻辑电路(110);
所述P端DAC(102)用于对输入相互进行采样、保持和量化,在校正时,P端DAC(102)的若干高位电容会由其自身的低位电容进行量化,用于确定高位电容的数字权重;
所述N端DAC(104),用于对输入信号地进行采样和量化,并提供量化过程中P端DAC的共模电压,且在每个电容进行校正之前,N端DAC(104)会用于消除P端DAC(102)与N端DAC(104)之间的失调和比较器(106)的失调;
所述比较器(106),用以对P端DAC(102)和N端DAC(104)之间的差分电压进行比较,并输出逻辑电平;
所述SAR逻辑电路(108),用于控制P端DAC(102)和N端DAC(104)电容开关的切换;
所述校正逻辑电路(110)用于完成对P端DAC(102)若干高位电容数字权重的计算以及正常工作时数字输出的计算;
所述校正控制电路(112),用于对SAR逻辑电路(108)和校正逻辑电路(110)的状态进行控制。
2.根据权利要求1所述的具有电容失配校正功能的逐次逼近型模数转换器,其特征在于:在所述P端DAC(102)上进行模拟输入信号的输入,在N端DAC(104)上连接信号地。
3.根据权利要求1或2所述的具有电容失配校正功能的逐次逼近型模数转换器,其特征在于:所述P端DAC(102)、N端DAC(104)的采用相同的DAC电路结构,且所述DAC电路结构包括高段电容阵列(202)、低段电容阵列(204)、小数电容阵列(206)以及CC校正电容阵列(208),所述CC校正电容阵列(208)连接小数电容阵列(206),小数电容阵列(206)连接低段电容阵列(204),所述高段电容阵列(202)与低段电容阵列(204)之间通过电容CC进行耦合。
4.根据权利要求3所述的具有电容失配校正功能的逐次逼近型模数转换器,其特征在于:在所述高段电容阵列(202)和低段电容阵列(204)内设置有至少一个二进制电容阵列。
5.根据权利要求4所述的具有电容失配校正功能的逐次逼近型模数转换器,其特征在于:当所述高段电容阵列(202)和低段电容阵列(204)内设置有2个或以上二进制电容阵列时,每个二进制电容阵列最低位后面设置有一个冗余电容,且冗余电容与它前一个二进制电容阵列的最低位电容大小相同。
6.根据权利要求3所述的具有电容失配校正功能的逐次逼近型模数转换器,其特征在于:所述小数电容阵列(206)以及CC校正电容阵列(208)内部亦设置有至少一个二进制电容阵列。
7.根据权利要求1或2或4或5或6所述的具有电容失配校正功能的逐次逼近型模数转换器,其特征在于:所述校正逻辑电路(110)用于输出校正电路的转换结果。
8.根据权利要求1或2或4或5或6所述的具有电容失配校正功能的逐次逼近型模数转换器,其特征在于:所述SAR逻辑电路(108)采用连接控制的方式控制连接P端DAC(102)、N端DAC(104)及校正逻辑电路(110)。
9.根据权利要求1或2或4或5或6所述的具有电容失配校正功能的逐次逼近型模数转换器,其特征在于:所述校正控制电路(112)亦采用连接控制的方式控制连接SAR逻辑电路(108)和校正逻辑电路(110)。
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