[发明专利]基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法

权利要求书

1.基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法，其特征在于该方法的步骤包括：

步骤1，读取高分一号B卫星待检校影像，读取的待检校影像标记为参考数据A，读取影像范围内的参考数据DOM参考数据和DEM参考数据，读取的参考数据标记为参考数据B，并将参考数据A和参考数据B进行图像匹配，得到若干个像控点坐标；

步骤2，根据步骤1得到的若干个像控点坐标解算高分一号B卫星的严格成像模型中的姿态、轨道和行时；

步骤3，根据步骤2解算得到的姿态、轨道和行时，重新进行高分一号B卫星的严格成像模型构建，得到精确地理坐标；

所述的步骤2中，严格成像模型为：

上式中，(x,y)代表像点在相机焦平面上的坐标；f为相机主距；R代表影像的外方位角元素(pitch,roll,yaw)构成的姿态矩阵；λ为摄影比例系数；(X_g,Y_g,Z_g)表示地面点坐标在空间中的位置坐标，即外方位线元素；下标i则代表影像号，在严格成像模型中，对各条带影像均引入姿态角改正数(dp_i,dr_i,dy_i)i＝1,2,...,n，如下式：

将上式方程简写为如下形式：

假设整个区域网中有m个像控点T_j(L_j,B_j,H_j)，其中j＝1,2....,m，所有像控点在影像上的像点共有K个，记为p_k(x_k,y_k)k＝1,2,...,K，对于第i个影像上像控点T_j(L_j,B_j,H_j)对应的像点p_k(x_k,y_k)，构建误差方程：

将上述误差方程写成矩阵形式：

V_k＝A_kX+B_kY-L_k P_k

其中：X_i代表(Δpitch_i，Δroll_i，Δyaw_i)，Y_j代表(ΔXg_j，ΔYg_j，ΔZg_j)；

对所有像控点对应的像点均构建如上的误差方程式，并写成矩阵形式为：

V＝AX+BY-L P

其中：

根据最小二乘平差原理，对观测误差方程进行法化，得到法方程如式所示：

均采用分块矩阵的处理方法进行参数求解。

2.根据权利要求1所述的基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法，其特征在于：该方法基于高精度参考底图。

3.根据权利要求2所述的基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法，其特征在于：高精度参考底图包括DOM数据和DEM数据。

4.根据权利要求3所述的基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法，其特征在于：该方法采用全自动匹配控制点匹配和单轨条带平差技术，对高分一号B卫星影像进行姿轨精化。

5.根据权利要求4所述的基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法，其特征在于：该方法能够提高影像的几何精度，能够用于各种型号的卫星影像。

6.根据权利要求1所述的基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法，其特征在于：所述的步骤1中，将参考数据A和参考数据B进行图像匹配时进行图像灰度相关匹配。

7.根据权利要求1所述的基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法，其特征在于：所述的步骤1中，得到的若干个像控点坐标的数量为几千到上万个。