[发明专利]基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法有效

专利信息
申请号: 201911269694.8 申请日: 2019-12-11
公开(公告)号: CN111044076B 公开(公告)日: 2022-03-04
发明(设计)人: 龙小祥;李庆鹏;魏宝安;李晓进 申请(专利权)人: 中国资源卫星应用中心
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 张丽娜
地址: 100094 北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 参考 高分 一号 卫星 几何 校方
【说明书】:

发明涉及一种基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,属于卫星在轨运行期间的检校技术领域。本发明的方法能够明显提升影像的几何精度,整体效率高。本发明的方法中使用的均为数字信息或数据,采用自动匹配等算法实现几何标定处理,可实现全自动化几何检校,无需人工参与。

技术领域

本发明涉及一种基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,属于卫星在轨运行期间的检校技术领域。

背景技术

对于一个卫星系统,虽然在发射之前都已经过相机的几何和辐射标定,但是由于发射过程中的震动和在轨运行环境的变化等因素的影响,卫星在轨运行时的相机参数一般都会发生变化,因此需要对相机的几何参数重新进行检校,从而提高其产品的定位精度。

发明内容

本发明的技术解决问题是:克服现有技术人工工作量大、检校速度慢的不足,提出基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,该方法为一种基于已有高精度参考底图,实现高分一号B卫星姿轨精化,从而提高卫星全色和多光谱影像的直接对地定位精度。

本发明的技术解决方案是:

基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,该方法基于高精度参考底图(DOM、DEM数据),采用全自动匹配控制点匹配和单轨条带平差技术,对高分一号B卫星影像进行姿轨精化,提高影像的几何精度,可用于各种型号的卫星影,该方法的步骤包括:

步骤1,读取高分一号B卫星待检校影像,读取的待检校影像标记为参考数据A,读取影像范围内的参考数据DOM参考数据和DEM参考数据,读取的参考数据标记为参考数据B,并将待检校影像A和参考数据B进行图像匹配,比如进行图像灰度相关匹配,得到若干个像控点坐标,一般为几千到上万个;

步骤2,根据步骤1得到的若干个像控点坐标解算高分一号B卫星的严格成像模型中的姿态、轨道和行时;解算方法为:利用条带光束平差的方法进行解算;

步骤3,根据步骤2解算的姿态、轨道和行时,重新进行高分一号B卫星的严格成像模型构建,计算其精确地理坐标。

本发明具有如下优点:

(1)本发明的方法能够明显提升影像的几何精度,整体效率高。

(2)本发明的方法中使用的均为数字信息或数据,采用自动匹配等算法实现几何标定处理,可实现全自动化几何检校,无需人工参与。

附图说明

图1为控制点自动匹配结果的示意图,图中,每个小三角形均为匹配点;

图2为原始影像定位精度示意图,接边差为180米;

图3为姿轨精化效果示意图,接边差大幅减小为3米以内。

具体实施方式

下面通过实施例,并结合附图,对本发明的技术方案作进一步具体的说明。

实施例

基于参考底图的高分一号B卫星几何检校方法,该方法的步骤包括:

步骤1,读取高分一号B卫星待检校影像,读取的待检校影像标记为参考数据A,读取影像范围内的参考数据DOM参考数据和DEM参考数据,读取的参考数据标记为参考数据B,并将待检校影像A和参考数据B进行图像匹配,比如进行图像灰度相关匹配,得到若干个像控点坐标,如图1所示,一般为几千到上万个;

步骤2,根据步骤1得到的若干个像控点坐标解算高分一号B卫星的严格成像模型中的姿态、轨道和行时;原始影像定位精度如图2所示,解算方法为:利用条带光束平差的方法进行解算;

根据光学卫星影像严格几何成像模型:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国资源卫星应用中心,未经中国资源卫星应用中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911269694.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top