[发明专利]一种超导磁测系统角度误差的校正方法及存储介质有效

专利信息
申请号: 201911274147.9 申请日: 2019-12-12
公开(公告)号: CN111077595B 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 邱隆清;翟俊奇;伍俊;荣亮亮;董慧;裴易峰;陶泉;张国峰 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G01V13/00 分类号: G01V13/00;G01V3/16;G01V3/165
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;贾允
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 超导 系统 角度 误差 校正 方法 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种超导磁测系统角度误差的校正方法,其特征在于,所述方法采用一套磁测装置来确定全张量磁梯度测量组件与组合惯导之间的角度安装误差,所述磁测装置包括,一个全张量磁梯度测量组件、一个总场探测器和一个组合惯导;所述全张量磁梯度测量组件包括一个三轴磁强计和一个全张量梯度模块;

所述方法包括:

通过所述总场探测器获取外界磁场总场;

根据所述外界磁场总场,对所述三轴磁强计的磁场进行校正,获得校正后的三轴磁强计的磁场分量信息;

将所述三轴磁强计的磁场分量信息与地球磁场模型信息进行对比,获得所述三轴磁强计的磁场姿态信息;

将所述组合惯导获取的姿态信息与所述三轴磁强计的磁场姿态信息进行对比,获得两组姿态间的目标安装误差值;

根据所述目标安装误差值进行角度安装误差的校正。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述总场探测器放置于与所述全张量磁梯度测量组件预设距离的位置,将所述组合惯导放置于与所述全张量磁梯度测量组件预设距离的位置,将所述组合惯导放置于与所述总场探测器预设距离的位置。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述总场探测器包括光泵或质子磁强计。

4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,将所述全张量磁梯度测量组件放置于无磁杜瓦底部。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述三轴磁强计包括三个超导量子干涉磁强计;所述全张量磁梯度测量组件工作在液氮环境时,所述超导量子干涉磁强计是高温超导量子干涉磁强计;所述全张量磁梯度测量组件工作于液氦环境时,所述超导量子干涉磁强计是低温超导量子干涉磁强计。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述三轴磁强计采集的数据为地球磁场数据。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述三轴磁强计的数据采样率、所述组合惯导的数据采样率和所述总场探测器的数据采样率一致。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,对所述组合惯导的三轴方位与所述三轴磁强计的三轴方向一致性进行预校准。

9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述三轴磁强计的磁场进行校正,包括:采用三轴拟合总场方式对所述三轴磁强计的磁场进行校正。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述存储介质中存储有至少一条指令或至少一段程序,所述至少一条指令或所述至少一段程序以实现如权利要求1-9任一所述的校正方法。

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