[发明专利]温度检测电路、温度检测设备、芯片及电路结构

说明书

本申请实施例提供了一种温度检测电路、温度检测设备、芯片及电路结构，该温度检测电路包括：MOS管温度感应单元，用于感应温度并输出与温度呈正相关的指数关系的漏电流；电流感应单元，其与MOS管温度感应单元连接；计数单元，用于参考预设时钟信号在预设时间段内对所述第一信号的周期数进行计数得到计数值；处理单元，用于根据计数值、指数关系、第一线性关系以及预设时间段计算MOS管温度感应单元感应到温度值。本申请通过采用MOS管温度感应单元来感应温度并输出与温度呈正相关的指数关系的漏电流，使得电流在全温度范围内的变化幅度较大，可以提高了温度检测的准确度以及检测灵敏度。

技术领域

本申请涉及温度检测技术领域，具体而言，涉及一种温度检测电路、温度检测设备、芯片及电路结构。

背景技术

近些年来，集成电路飞速发展，工艺制造水平不断进步。单位芯片面积上的元器件数目越来越多，芯片的发热量也越来越大。对于CPU这类规模较大的芯片，片上的温度分布范围广，更需要能够多处检测芯片温度。

传统的温度检测电路结构大部分利用三极管产生与温度成正相关的PTAT电压或者与温度成负相关的CTAT电压，再将PTAT电压或者CTAT电压模拟量转换为数字量。但是，采用这种方法时，感应到的温度与产生的电压呈线性关系，使得电压在全温度范围内的变化幅度较小，其检测精确度极其依赖模数转换器精确度，且易受电源电压影响。

针对上述问题，目前尚未有有效的技术解决方案。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种温度检测电路、温度检测设备、芯片及电路结构，通过感应温度产生与温度呈正相关的指数关系的漏电流，可以提高温度检测的准确度。

第一方面，本申请实施例提供了一种温度检测电路，包括：

MOS管温度感应单元，用于感应温度并输出与温度呈正相关的指数关系的漏电流；

电流感应单元，其与所述MOS管温度感应单元连接，以用于感应所述漏电流的电流值并输出第一信号，所述第一信号的频率与所述电流值呈正相关的第一线性关系；

计数单元，其与所述电流感应单元连接，以接入所述第一信号并用于参考预设时钟信号在预设时间段内对所述第一信号的周期数进行计数得到计数值；

处理单元，用于根据所述计数值、所述指数关系、所述第一线性关系以及所述预设时间段计算MOS管温度感应单元感应到温度值。

本申请实施例通过采用MOS管温度感应单元来感应温度并输出与温度呈正相关的指数关系的漏电流，从而使得电流在全温度范围内的变化大，可以提高了温度检测的准确度以及检测灵敏度。

可选地，在本申请实施例所述的温度检测电路中，所述MOS管温度感应单元包括：

第一NMOS管，所述第一NMOS管处于关断状态并用于感应温度以输出与温度呈正相关的指数关系的漏电流；

限压模块，其一端与所述第一NMOS管的漏极连接，其另一端与所述电流感应单元连接，所述限压模块用于对所述第一NMOS管的源、漏极电压进行限压。

本申请实施例通过采用该限压模块来对该第一NMOS管的源、漏极电压进行限压，避免该源、漏极电压随着温度以及电源电压的改变而改变，进而去除了由于源、漏极电压导致的电流变化，可以提高温度检测的准确度。

可选地，在本申请实施例所述的温度检测电路中，所述限压模块包括：

第二NMOS管，其源极与所述第一NMOS管的漏极连接，其漏极与所述电流感应单元连接；