[发明专利]一种针对OLED屏DeMURA的最优数据压缩率计算方法

说明书

一种针对OLED屏DeMURA的最优数据压缩率计算方法，包括以下步骤：1)首先采集多阶灰度下的亮度数据；2)亮度数据在每个灰阶、每个位置上的亮度响应与输入灰阶关系插值或者拟合出所有灰阶的响应曲线；基于响应曲线做聚类；4)基于聚类结果的标签作为DeMURAtable，完成压缩。本发明可以基于提供条件计算最优的压缩率；在给定条件不满足的情况下，可以给出硬件参数建议，具有较高的鲁棒性。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域。

背景技术

OLED屏每个发光单元与输入灰度呈现出非线性关系，而造成屏幕显示具有局部不均匀性，这种不均匀性称为MURA，来自于日语音译，代表粗糙的、不光滑的意思。可以通过计算OLED屏基准区域的平均亮度做gamma逆校正估计输入灰度，通过多灰阶模型计算demura调整参数进行DeMURA。该种方法在硬件实现过程中，至少需要包含3(通道数)*OLED屏幕行数*列数*256个灰度级调整因子。在本申请的实验中，OLED屏幕大小为2160*720，则硬件需要加载的调整因子共有4.44GB。当然在DeMURA时，对每一个灰阶都进行调整是不必要的，通常的做法是将灰阶分为7段，则调整因子可以降低至248(3*2160*720*2*4/1024/1024)MB。这对Drive IC的Flash ROM是巨大的负担，因此需要对数据进行压缩。

常用的数据压缩方法有哈夫曼编码、LZW压缩和游程编码，这些数据压缩方法对数据进行重新组织，以减少数据的存储空间，降低数据冗余。但是压缩数据在烧录Flash时需要译码，且调整因子都是浮点数，存在着精度丢失和码表过长的矛盾，数据压缩率有限。基于申请人之前的申请号为201910449048.3、名称为一种针对OLED屏DeMURA数据的压缩方法中记载的技术方案，是可以解决这个问题的，但是对于不同程度的MURA、不同大小SRAM的IC，人工设定压缩参数的方式仍然会降低解压精度，从而影响结果。

发明内容

为了解决OLED屏DeMURA数据的压缩存在的上述问题，本发明提供了一种针对OLED屏DeMURA的最优数据压缩率计算方法。

本发明为实现上述目的所采用的技术方案是：一种针对OLED屏DeMURA的最优数据压缩率计算方法，包括以下步骤：

1)首先采集多阶灰度下的亮度数据；

2)亮度数据在每个灰阶、每个位置上的亮度响应与输入灰阶关系插值或者拟合出所有灰阶的响应曲线；

4)基于响应曲线做聚类，聚类方法如下：

3.1)基于M计算压缩率r，假定图像大小为X行Y列，压缩率计算方法参考公式1):

其中M为SRAM的大小，单位MB；

3.2)基于压缩率计算聚类数量C^*，计算方法参考公式:

3.3)基于聚类数量设定做聚类压缩；

3.4)基于压缩结果计算每个灰阶在解压条件下的平均误差δ^*，误差计算公式参考公式3)，I(x,y)表示DeMURA过程中的设定灰度图像在(x,y)的采集所得灰阶，表示DeMURA过程中的设定灰度图像在(x,y)的解码后所得灰阶；

3.5)若误差δ^*小于等于δ，则最优调整完成，按照给定方式提供DeMURAtable结果，否则进行步骤3.6)，δ为压缩精度，单位为灰阶；

3.6)误差δ^*大于δ，则现阶段的SRAM大小不允许高精度的DeMURA，这里在提供DeMURAtable结果前提下，基于二分法做满足δ的聚类参数；