[发明专利]一种太阳能薄膜光伏组件分波段检测方法在审
申请号: | 201911289773.5 | 申请日: | 2019-12-16 |
公开(公告)号: | CN111063625A | 公开(公告)日: | 2020-04-24 |
发明(设计)人: | 郭小佳;张建伟;韩福英;孙旭;姚应妮;刘小雨 | 申请(专利权)人: | 凯盛光伏材料有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L31/18 |
代理公司: | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 | 代理人: | 陈俊 |
地址: | 233010 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 太阳能 薄膜 组件 波段 检测 方法 | ||
1.一种太阳能薄膜光伏组件分波段检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
a、将待测薄膜光伏组件放置于Halm测试机,利用Halm测试机测试薄膜光伏组件的电学性能参数,电学性能参数包含短路电流Isc、开路电压Uoc、填充因子FF、功率Pmpp;
b、在待测薄膜光伏组件上放置紫色滤光片,利用Halm测试机测试,获取滤除紫光的电学性能参数:Isc1、Uoc1、FF1与Pmpp1;
c、在待测薄膜光伏组件上放置蓝色滤光片,利用Halm测试机测试,获取滤除蓝光的电学性能参数:Isc2、Uoc2、FF2与Pmpp2;
d、在待测薄膜光伏组件上放置绿色滤光片,利用Halm测试机测试,获取滤除绿光的电学性能参数:Isc3、Uoc3、FF3与Pmpp3;
e、在待测薄膜光伏组件上放置黄色滤光片,利用Halm测试机测试,获取滤除黄光的电学性能参数:Isc4、Uoc4、FF4与Pmpp4;
f、在待测薄膜光伏组件上放置红色滤光片,利用Halm测试机测试,获取滤除红光的电学性能参数:Isc5、Uoc5、FF5与Pmpp5;
g、分别计算在不同波段下的吸收率,紫色波段吸收率=(Isc-Isc1)/Isc,蓝色波段吸收率=(Isc-Isc2)/Isc,绿色波段吸收率=(Isc-Isc3)/Isc,黄色波段吸收率=(Isc-Isc4)/Isc,红色波段吸收率=(Isc-Isc5)/Isc。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造