[发明专利]一种太阳能薄膜光伏组件分波段检测方法在审

专利信息
申请号: 201911289773.5 申请日: 2019-12-16
公开(公告)号: CN111063625A 公开(公告)日: 2020-04-24
发明(设计)人: 郭小佳;张建伟;韩福英;孙旭;姚应妮;刘小雨 申请(专利权)人: 凯盛光伏材料有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01L31/18
代理公司: 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 代理人: 陈俊
地址: 233010 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 太阳能 薄膜 组件 波段 检测 方法
【说明书】:

发明公开一种太阳能薄膜光伏组件分波段检测方法,包括以下步骤:将待测薄膜光伏组件放置于Halm测试机,利用Halm测试机测试薄膜光伏组件的电学性能参数,电学性能参数包含短路电流Isc、开路电压Uoc、填充因子FF、功率Pmpp;依次在在待测薄膜光伏组件上放置紫色滤光片、蓝色滤光片、绿色滤光片、黄色滤光片与红色滤光片,分别测试在不同波段下的电学性能参数,根据电学性能参数计算在不同波段下的吸收率;将不同波段下的吸收率进行对比,即可以发现薄膜光伏组件各膜层的性能及优化方向;本方法操作简单,能够极大地提高检测效率。

技术领域

本发明涉及太阳能电池技术领域,具体是一种太阳能薄膜光伏组件分波段检测方法。

背景技术

由于硅在地壳中储量极为丰富,仅次于氧,并且伴随着微电子行业的发展,人们对硅的研究比较全面,提炼及加工技术均很成熟。同时,硅性能稳定且无毒,不会对环境造成污染,因此成为了太阳能电池研发、生产和应用的主体材料。

目前转换效率最高的硅太阳能电池其光电转换效率为26.63%,已接近硅太阳能电池理论极跟值。然而由于晶体硅是间接带隙半导体材料,其光吸收系数比较低,所以挂太阳能电池需要很厚(微米以上)的硅材料才可以吸收大部分的太阳光。另外,硅晶的提炼和生长本身就是一个高污染、高能耗的工业过程,因此,硅材料并不是十分理想的太阳能电池材料。

铜铟镓硒薄膜太阳电池作为薄膜电池的一种,具有生产成本低、污染小、不衰退、弱光性能好等特点,光电转换效率较高,接近晶体硅太阳电池,而成本则是晶体硅电池的三分之一,被国际上称为下一时代非常有前途的新型薄膜太阳电池。此外,该电池具有柔和、均匀的黑色外观,是对外观有较高要求场所的理想选择,如大型建筑物的玻璃幕墙等,在现代化高层建筑等领域有很大市场。而且该电池属于直接带隙薄膜电池,比间接带隙的晶硅有更高的吸收系数,利用大约2 µm厚度的吸收层,可以捕获足够的太阳光。

但是由于薄膜组件的固有特性,在制备样品进行量子效率测试时,非常麻烦而且失败率较高,因此采用新的方法进行检测势在必行。

发明内容

本发明的目的在于提供一种太阳能薄膜光伏组件分波段检测方法,该方法能够降低检测难度、提升检测效率。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:

一种太阳能薄膜光伏组件分波段检测方法,包括以下步骤:

a、将待测薄膜光伏组件放置于Halm测试机,利用Halm测试机测试薄膜光伏组件的电学性能参数,电学性能参数包含短路电流Isc、开路电压Uoc、填充因子FF、功率Pmpp;

b、在待测薄膜光伏组件上放置紫色滤光片,利用Halm测试机测试,获取滤除紫光的电学性能参数:Isc1、Uoc1、FF1与Pmpp1;

c、在待测薄膜光伏组件上放置蓝色滤光片,利用Halm测试机测试,获取滤除蓝光的电学性能参数:Isc2、Uoc2、FF2与Pmpp2;

d、在待测薄膜光伏组件上放置绿色滤光片,利用Halm测试机测试,获取滤除绿光的电学性能参数:Isc3、Uoc3、FF3与Pmpp3;

e、在待测薄膜光伏组件上放置黄色滤光片,利用Halm测试机测试,获取滤除黄光的电学性能参数:Isc4、Uoc4、FF4与Pmpp4;

f、在待测薄膜光伏组件上放置红色滤光片,利用Halm测试机测试,获取滤除红光的电学性能参数:Isc5、Uoc5、FF5与Pmpp5;

g、分别计算在不同波段下的吸收率,紫色波段吸收率=(Isc-Isc1)/Isc,蓝色波段吸收率=(Isc-Isc2)/Isc,绿色波段吸收率=(Isc-Isc3)/Isc,黄色波段吸收率=(Isc-Isc4)/Isc,红色波段吸收率=(Isc-Isc5)/Isc。

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