[发明专利]一种光学材料性能检测装置有效

专利信息
申请号: 201911312386.9 申请日: 2019-12-18
公开(公告)号: CN111122397B 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 黄凌雄;陈瑞平;张戈;李丙轩;廖文斌 申请(专利权)人: 中国科学院福建物质结构研究所
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 北京元周律知识产权代理有限公司 11540 代理人: 校丽丽
地址: 350002 福建*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学材料 性能 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种光学材料性能检测装置,其特征在于,所述检测装置包括:

样品台,用于放置待测样品;

图像采集模块,设置在所述样品台的上方,用于采集所述待测样品的待测区域的图像;

处理模块,用于根据所述待测区域的图像获取所述待测区域中待测样品的粒度信息;

所述图像采集模块位于所述待测区域的正上方;

所述粒度信息包括颗粒大小信息、颗粒形貌信息、粒度分布信息、粒度与二阶非线性光学信号之间的关系信息;

所述图像采集模块包括成像镜头和成像探测器;所述成像镜头用于提供不同的成像放大倍率;所述成像探测器用于采集所述待测区域的图像;

所述检测装置还包括,激光光源,用于照射所述待测区域,为待测样品提供二阶非线性光学分析所需的激光光源;光学探测器,用于接收激光光源照射所述待测区域后,反射或透射的光线;具体的,光学探测器接收反射或透射的光线后,分析得到激光照射待测区域后的二阶非线性光学信息的强度;所述光学探测器为光电倍增管或高量子效率的CCD探测器;

当所述光学探测器接收激光光源照射待测区域后反射的光线时,所述光学探测器设置在与入射光线沿法线对称的出射光线的光路上;当所述光学探测器接收激光光源照射待测区域后透射的光线时,所述光学探测器设置在与入射光线的光路同一直线的出射光线的光路上。

2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括照明光源,所述照明光源用于照射所述待测样品,以在所述待测样品上形成光斑,所述光斑为所述待测区域。

3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括设置在所述照明光源出射光路上的第一光学组件,所述第一光学组件用于对所述照明光源出射的光线进行整形。

4.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括设置在所述第一光学组件出射光路上的光阑,所述光阑用于调节从所述第一光学组件出射的光束大小。

5.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括设置在所述待测样品与所述图像采集模块之间的第二光学组件;

所述第二光学组件用于调节射向所述图像采集模块的光线强度。

6.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括:

设置在所述照明光源出射光路上的合束镜;所述合束镜用于将所述激光光源出射的光线与所述照明光源出射的光线合为同轴光线。

7.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括:

设置在所述光学探测器入射光路上的第三光学组件,所述第三光学组件用于对激光光源照射所述待测区域后,反射或透射的光线进行整形;

设置在所述激光光源出射光路上的第四光学组件,所述第四光学组件用于对所述激光光源出射的光线进行整形。

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