[发明专利]一种光学材料性能检测装置

说明书

本发明公开了一种光学材料性能检测装置，属于材料性能测试技术领域，能够解决现有装置不能提供光学材料二阶非线性光学信号检测区域处准确可靠的粒度信息，从而不能准确反映光学材料的二阶非线性光学性能的问题。所述检测装置包括：样品台，用于放置待测样品；图像采集模块，设置在样品台的上方，用于采集待测样品的待测区域的图像；处理模块，用于根据待测区域的图像获取待测区域中待测样品的粒度信息。本发明用于光学材料的二阶非线性光学性能分析。

技术领域

本发明涉及一种光学材料性能检测装置，属于材料性能测试技术领域。

背景技术

由于二阶非线性光学材料应用的频率范围从极深紫外波段到中远红外波段，甚至是太赫兹波段，应用范围较广，故二阶非线性光学材料在激光应用中有着极为重要的地位，因而探索研发性能优异的二阶非线性光学材料，一直以来都受到光学材料领域的重视。由于新型二阶非线性光学材料的研发需要从浩如烟海的合成物质中寻找适合的候选材料，再经历材料探索、性能表征、材料工艺研究等若干过程，从而需要花费研究人员大量的心血。

决定二阶非线性光学材料的应用潜力是该材料的二阶非线性光学性能，研发人员常常通过测量光学材料粉体的二阶非线性光学性能来评价材料在非线性光学应用中的可能。二阶非线性光学性能的测试结果的可靠与否与该材料粉末的粒度直接相关。目前，二阶非线性光学材料性能的表征，首先通过筛分的方式得出光学材料样品粗略的粒度信息，然后对该筛分后的光学材料样品进行二阶非线性光学信号测量，再结合光学材料样品的粒度信息和二阶非线性光学信号综合得出光学材料样品的二阶非线性光学性能。由于光学材料样品是通过筛分的方式给出粗略的粒度，不能提供二阶非线性光学信号检测区域准确可靠的粒度信息，从而不能准确反映光学材料的二阶非线性光学性能。

发明内容

本发明提供了一种光学材料性能检测装置，能够解决现有装置不能提供光学材料二阶非线性光学信号检测区域处准确可靠的粒度信息，从而不能准确反映光学材料的二阶非线性光学性能的问题。

本发明提供了一种光学材料性能检测装置，所述检测装置包括：样品台，用于放置待测样品；图像采集模块，设置在所述样品台的上方，用于采集所述待测样品的待测区域的图像；处理模块，用于根据所述待测区域的图像获取所述待测区域中待测样品的粒度信息。

可选的，所述图像采集模块位于所述待测区域的正上方。

可选的，所述检测装置还包括照明光源，所述照明光源用于照射所述待测样品，以在所述待测样品上形成光斑，所述光斑为所述待测区域。

可选的，所述检测装置还包括设置在所述照明光源出射光路上的第一光学组件，所述第一光学组件用于对所述照明光源出射的光线进行整形。

可选的，所述检测装置还包括设置在所述第一光学组件出射光路上的光阑，所述光阑用于调节从所述第一光学组件出射的光束大小。

可选的，所述图像采集模块包括成像镜头和成像探测器；所述成像镜头用于提供不同的成像放大倍率；所述成像探测器用于采集所述待测区域的图像。

可选的，所述检测装置还包括设置在所述待测样品与所述图像采集模块之间的第二光学组件；所述第二光学组件用于调节射向所述图像采集模块的光线强度。

可选的，所述检测装置还包括：激光光源，用于照射所述待测区域；光学探测器，用于接收激光光源照射所述待测区域后，反射或透射的光线。

可选的，所述检测装置还包括：设置在所述照明光源出射光路上的合束镜；所述合束镜用于将所述激光光源出射的光线与所述照明光源出射的光线合为同轴光线。

可选的，所述检测装置还包括：设置在所述光学探测器入射光路上的第三光学组件，所述第三光学组件用于对激光光源照射所述待测区域后，反射或透射的光线进行整形；设置在所述激光光源出射光路上的第四光学组件，所述第四光学组件用于对所述激光光源出射的光线进行整形。