[发明专利]一种芯片测试夹具的保护装置

说明书

本发明提供了一种芯片测试夹具的保护装置，属于芯片测试领域。所述保护装置用于保护芯片测试夹具，所述芯片测试夹具安装在印制电路板的正面上；所述保护装置包括一保护罩，所述保护罩具有一空腔，当所述保护罩固定在所述印制电路板上时，所述芯片测试夹具位于所述空腔内。本发明提供的一种芯片测试夹具的保护装置可以将芯片测试夹具与外界隔离，从而有效的保护芯片测试夹具。

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，特别涉及一种芯片测试夹具的保护装置。

背景技术

芯片制作完成后，需要把芯片放在芯片测试夹具上进行测试，芯片测试夹具也可以称为精密测试插座。目前的芯片测试夹具通常被固定在印制电路板的正面上，在芯片需要测试时，把芯片放置在芯片测试夹具上即可对芯片进行测试。

然而，工程技术人员或生产人员在芯片测试夹具上测试芯片时，有时需要移动印制电路板的位置，这样容易碰损芯片测试夹具；另外，有时某些芯片测试夹具可能会长期闲置不用，灰尘落到芯片测试夹具上也可能导致其损坏。这些都会使得芯片测试夹具损坏，造成芯片测试时机延误，以及整体的生产周期延长。

发明内容

本发明提供了一种芯片测试夹具的保护装置，以解决芯片测试夹具容易损坏的技术问题。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种芯片测试夹具的保护装置，所述保护装置用于保护芯片测试夹具，所述芯片测试夹具安装在印制电路板的正面上；

所述保护装置包括一保护罩，所述保护罩具有一空腔，当所述保护罩固定在所述印制电路板上时，所述芯片测试夹具位于所述空腔内。

可选的，所述保护装置还包括用于固定所述保护罩的固定单元，所述固定单元用于将所述保护罩固定在所述印制电路板上。

可选的，所述保护罩通过所述固定单元与所述印制电路板可拆卸连接。

可选的，所述固定单元包括第一连接件和第二连接件，所述第一连接件设置于所述保护罩上，所述第二连接件设置于所述印制电路板上，所述第一连接件与所述第二连接件可拆卸连接。

可选的，所述第一连接件的数量和所述第二连接件的数量均为多个，多个所述第一连接件均匀的分布在所述保护罩与所述印制电路板接触的位置，所述保护罩上的第一连接件与所述印制电路板上的所述第二连接件相对分布。

可选的，所述保护罩为中空的长方体，所述长方体的长边的两侧分别设置一连接板，所述连接板与所述印制电路板平行；所述第一连接件均匀的分布在所述连接板上，所述第二连接件相对所述第一连接件分布在所述印制电路板上。

可选的，所述第一连接件镶嵌在所述连接板内，所述第二连接件镶嵌在所述印制电路板内。

可选的，所述第一连接件的一端位于所述连接板的内部，另一端与所述连接板的表面齐平；所述第二连接件的一端位于所述印制电路板的内部，另一端与所述印制电路板的正面齐平。

可选的于，所述第一连接件为磁铁，所述第二连接件为磁铁或具有铁磁性的器件。

可选的，所述第一连接件和所述第二连接件为相互匹配的卡扣结构。

本发明提供的一种芯片测试夹具的保护装置可以将芯片测试夹具与外界隔离，从而有效的保护芯片测试夹具。

附图说明

图1是本发明提供的一种芯片测试夹具的保护装置的结构示意图。

[附图标记说明如下]：

1-芯片测试夹具；2-印制电路板；3-保护罩；4，5-磁铁。

具体实施方式