[发明专利]一种用于720度环境探测的摄像模组标定方法及设备在审
申请号: | 201911337902.3 | 申请日: | 2019-12-23 |
公开(公告)号: | CN111080718A | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 常嘉义;梁艳菊 | 申请(专利权)人: | 中科院微电子研究所昆山分所 |
主分类号: | G06T7/80 | 分类号: | G06T7/80 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王云晓 |
地址: | 215347 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 720 环境 探测 摄像 模组 标定 方法 设备 | ||
1.一种用于720度环境探测的摄像模组标定方法,其特征在于,包括:
将摄像模组置于标定工具箱内;所述摄像模组包括六个摄像头,六个所述摄像头呈立方体分布;所述标定工具箱呈立方体,所述标定工具箱六个内壁均分别贴合有标定参照图,所述标定参照图包括特征点;所述摄像头与所述标定参照图一一对应;
通过所述摄像头拍摄对应的所述标定参照图,以生成标定图像;
计算所述标定图像内特征点的图像坐标;
根据所述标定参照图内特征点的世界坐标,以及所述标定图像内对应特征点的图像坐标,计算所述摄像模组中六个所述摄像头的内参数以及外参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述计算所述标定图像内特征点的图像坐标之前,所述方法还包括:
检测出所述标定图像中的特征点;
在所述根据所述标定参照图内特征点的世界坐标,以及所述标定图像内对应特征点的图像坐标,计算所述摄像模组中六个所述摄像头的内参数以及外参数之前,所述方法还包括:
以所述标定工具箱内中心为原点,测量所述标定参照图中所述特征点的世界坐标。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述标定参照图为棋盘格参照图。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述计算所述标定图像内特征点的图像坐标包括:
通过棋盘格特征检测算法计算所述标定图像内特征点的图像坐标。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述标定参照图内特征点的世界坐标,以及所述标定图像内对应特征点的图像坐标,计算所述摄像模组中六个所述摄像头的内参数以及外参数包括:
通过张氏标定算法,根据所述标定参照图内特征点的世界坐标,以及所述标定图像内对应特征点的图像坐标,计算所述摄像模组中六个所述摄像头的内参数;
根据所述内参数计算所述摄像模组中六个所述摄像头的外参数。
6.一种用于720度环境探测的摄像模组标定设备,其特征在于,包括标定工具箱和处理器;
所述标定工具箱用于容纳摄像模组,所述摄像模组包括六个摄像头,六个所述摄像头呈立方体分布;所述标定工具箱呈立方体,所述标定工具箱六个内壁均分别贴合有标定参照图,所述标定参照图包括特征点;所述标定参照图与所述摄像头一一对应;
所述处理器用于:
通过所述摄像头拍摄对应的所述标定参照图,以生成标定图像;
计算所述标定图像内特征点的图像坐标;
根据所述标定参照图内特征点的世界坐标,以及所述标定图像内对应特征点的图像坐标,计算所述摄像模组中六个所述摄像头的内参数以及外参数。
7.根据权利要求6所述的设备,其特征在于,所述处理器还用于:
检测出所述标定图像中的特征点;
以所述标定工具箱内中心为原点,测量所述标定参照图中所述特征点的世界坐标。
8.根据权利要求6所述的设备,其特征在于,所述标定参照图为棋盘格参照图。
9.根据权利要求8所述的设备,其特征在于,所述处理器具体用于:
通过棋盘格特征检测算法计算所述标定图像内特征点的图像坐标。
10.根据权利要求9所述的设备,其特征在于,所述处理器具体用于:
通过张氏标定算法,根据所述标定参照图内特征点的世界坐标,以及所述标定图像内对应特征点的图像坐标,计算所述摄像模组中六个所述摄像头的内参数;
根据所述内参数计算所述摄像模组中六个所述摄像头的外参数。
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