[发明专利]电源下降重置电路以及电源下降重置信号产生方法有效
申请号: | 201911338766.X | 申请日: | 2019-12-23 |
公开(公告)号: | CN111565034B | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 黄科颕 | 申请(专利权)人: | 华邦电子股份有限公司 |
主分类号: | H03K17/22 | 分类号: | H03K17/22 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 罗英;臧建明 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电源 下降 重置 电路 以及 信号 产生 方法 | ||
1.一种电源下降重置电路,包括:
第一步骤电路,用以检测供电电压的下降,并响应于所述第一步骤电路检测到所述供电电压的下降,以传送致能信号,其中,当所述供电电压上升或保持恒定时,所述第一步骤电路不消耗电流;以及
第二步骤电路,电性连接至所述第一步骤电路,并用以响应于接收所述致能信号,以检测所述供电电压,以及响应于判断所述供电电压下降至低于预设工作电压,以产生电源下降重置信号,其中所述第二步骤电路在接收所述致能信号后消耗工作电流,
其中所述第一步骤电路包括电性连接至晶体管的第一电阻器,其中所述晶体管连接至第二电阻器,其中所述第一电阻器的第一端点连接至所述供电电压,所述第一电阻器的第二端点连接至所述晶体管的第一端点,所述晶体管的栅极端点连接至所述供电电压,以及所述晶体管的第二端点连接至所述第二电阻器,其中,响应于所述供电电压的下降,所述晶体管的第一端点的电压大于所述供电电压,而流经所述第二电阻器的电流上升,进而产生电源下降检测信号。
2.根据权利要求1所述的电源下降重置电路,其中所述第二步骤电路还包括第一或门,其中所述第一或门接收所述电源下降检测信号及所述电源下降重置信号,并产生所述致能信号,其中所述第二步骤电路还包括第二或门,并响应于接收电源重置信号及指示所述供电电压下降至低于所述预设工作电压的检测结果,以产生所述电源下降重置信号。
3.根据权利要求2所述的电源下降重置电路,其中所述第二步骤电路在接收所述致能信号后消耗所述工作电流包括:
响应于接收所述致能信号及指示所述供电电压下降至低于所述预设工作电压的检测结果,所述第二步骤电路消耗所述工作电流,
其中所述第一步骤电路检测所述供电电压的下降包括:
检测每单位时间的所述供电电压的变化是否下降至零以下。
4.根据权利要求1所述的电源下降重置电路,其中所述电源下降重置电路耦接至电源重置电路,并设置于供电芯片内,其中所述电源下降重置信号恢复所述供电芯片的状态比特。
5.一种用于供电芯片的电源下降重置信号产生方法,包括:
利用第一步骤电路检测供电电压是否发生下降,其中当所述供电电压上升或保持恒定时,所述第一步骤电路不消耗电流;
响应于所述第一步骤电路检测到所述供电电压发生下降,以利用所述第一步骤电路传送致能信号;
响应于接收所述致能信号,以利用第二步骤电路检测所述供电电压是否下降至低于预设工作电压,其中所述第二步骤电路在接收所述致能信号后消耗工作电流;以及
响应于判断所述供电电压下降至低于所述预设工作电压,以产生所述电源下降重置信号,
其中所述第一步骤电路包括电性连接至晶体管的第一电阻器,其中所述晶体管连接至第二电阻器,其中所述第一电阻器的第一端点连接至所述供电电压,所述第一电阻器的第二端连接至所述晶体管的第一端点,所述晶体管的栅极连接至所述供电电压,以及所述晶体管的第二端点连接至第二电阻,其中,响应于所述供电电压的下降,所述晶体管的第一端点的电压大于所述供电电压,而流经所述第二电阻器的电流上升,进而产生电源下降检测信号。
6.根据权利要求5所述的电源下降重置信号产生方法,其中所述第二步骤电路还包括第一或门,其中所述第一或门接收所述电源下降检测信号及所述电源下降重置信号,并产生所述致能信号,其中第所述二步骤电路还包括第二或门,并响应于接收电源重置信号及指示所述供电电压下降至低于所述预设工作电压的检测结果,以产生所述电源下降重置信号。
7.根据权利要求6所述的电源下降重置信号产生方法,其中所述第二步骤电路在接收所述致能信号后消耗所述工作电流包括:
响应于接收所述致能信号及指示所述供电电压下降至低于所述预设工作电压的检测结果,所述第二步骤电路消耗所述工作电流,
其中所述第一步骤电路检测所述供电电压的下降包括:
检测每单位时间的所述供电电压的变化是否下降至零以下。
8.根据权利要求5所述的电源下降重置信号产生方法,其中电源下降重置电路耦接至电源重置电路,并设置于供电芯片内,其中所述电源下降重置信号恢复所述供电芯片的状态比特。
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