[发明专利]具有LED测试点的LED晶圆及转移方法

权利要求书

1.一种具有LED测试点的LED晶圆，其特征在于，所述LED晶圆包括多个LED单元以及至少一个LED测试点，所述LED测试点与所述LED单元具有相同结构，且所述LED测试点的尺寸大于所述LED单元，所述LED测试点用于进行LED电性测量，获得所述LED测试点的电性参数，以表征所述LED单元的电性参数。

2.根据权利要求1所述的具有LED测试点的LED晶圆，其特征在于：所述LED单元为MicroLED单元，所述Micro LED单元的尺寸不大于2mil×3mil。

3.根据权利要求1所述的具有LED测试点的LED晶圆，其特征在于：所述LED测试点的尺寸大于或等于能进行LED电性测量的最小尺寸。

4.根据权利要求1所述的具有LED测试点的LED晶圆，其特征在于：所述LED测试点的长度及宽度均为所述LED单元的长度及宽度的两倍以上。

5.根据权利要求1所述的具有LED测试点的LED晶圆，其特征在于：所述LED测试点的尺寸范围大于或等于2mil×3mil。

6.根据权利要求5所述的具有LED测试点的LED晶圆，其特征在于：所述LED测试点的尺寸范围介于2mil×3mil～5mil×10mil之间。

7.根据权利要求1所述的具有LED测试点的LED晶圆，其特征在于：所述LED测试点与所述LED单元的结构同为正装水平结构、垂直结构及倒装水平结构中的一种。

8.根据权利要求1所述的具有LED测试点的LED晶圆，其特征在于：所述电性参数包括电致发光波长、亮度、正向导通电压及反向漏电中的一种或多种。

9.根据权利要求1～8任意一项所述的具有LED测试点的LED晶圆，其特征在于：所述LED晶圆包括多个块状区域，每个所述块状区域包括多个LED单元以及至少一个LED测试点。

10.根据权利要求9所述的具有LED测试点的LED晶圆，其特征在于：所述LED测试点分布于所述块状区域的边缘区域。

11.一种如权利要求9～10所述的具有LED测试点的LED晶圆的转移方法，其特征在于，包括步骤：

1)提供一个或多个所述具有LED测试点的LED晶圆；

2)基于所述LED测试点进行LED电性测量，获得各所述块状区域的LED测试点的电性参数，并表征出各块状区域的LED单元的电性参数；

3)将电性参数相同或相近的块状区域上的LED单元转移至相同的中转基板或目标基板。

12.根据权利要求11所述的具有LED测试点的LED晶圆的转移方法，其特征在于：步骤3)所述转移的方法包括弹性印模转移、电磁转移、范德华力转移、静电力转移、激光转印、水流法转移及滚轮转印中的一种。