[发明专利]集成电路版图的检测方法、装置、设计方法与电子设备

权利要求书

1.一种集成电路版图的检测方法，其特征在于，包括：

确定所需检测的当前金属网络的GDS文件；

自所述GDS文件获取各金属线的金属线坐标；

自所述GDS文件获取现有过孔的坐标；

根据所述金属线坐标与所述现有过孔的坐标，确定遗漏过孔和/或缺失过孔的坐标，包括：

针对于任意两个金属线之间用于互相连接的重合坐标区域，比对所述重合坐标区域与所述现有过孔的坐标；以及：

若所述重合坐标区域未覆盖任何现有过孔，则确定所述重合坐标区域对应的过孔坐标为遗漏过孔的坐标；和/或：

若所述重合坐标区域中第一局部区域覆盖现有过孔，第二局部区域未覆盖现有过孔，则确定所述第二局部区域对应的过孔坐标中为缺失过孔的坐标。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，确定所需检测的当前金属网络的GDS文件，包括：

将设计完成的所述当前金属网络的集成电路版图转换成对应的所述GDS文件。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，确定所需检测的当前金属网络的GDS文件之前，还包括：

确定所述当前金属网络的集成电路版图中设有所述当前金属网络的标注文本层，所述标注文本层中能够对各金属线和/或过孔进行标注。

4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，还包括：确定所需检测的金属网络的GDS文件之前，还包括：

若所述当前金属网络的集成电路版图中未设有所述当前金属网络的标注文本层，则添加所述当前金属网络的标注文本层。

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，根据所述金属线坐标与所述现有过孔的坐标，确定遗漏过孔和/或缺失过孔的坐标之后，还包括：

对外输出所述遗漏过孔和/或缺失过孔的坐标。

6.根据权利要求1至4任一项所述的检测方法，其特征在于，所述金属线为信号金属线或电源金属线。

7.一种集成电路版图的检测装置，包括：

GDS文件确定模块，用于确定所需检测的当前金属网络的GDS文件；

金属线坐标获取模块，用于自所述GDS文件获取各金属线的金属线坐标；

现有过孔坐标获取模块，用于自所述GDS文件获取现有过孔的坐标；

缺漏过孔坐标获取模块，用于根据所述金属线坐标与所述现有过孔的坐标，确定遗漏过孔和/或缺失过孔的坐标，其中包括：

针对于任意两个金属线之间用于互相连接的重合坐标区域，比对所述重合坐标区域与所述现有过孔的坐标；以及：

若所述重合坐标区域未覆盖任何现有过孔，则确定所述重合坐标区域对应的过孔坐标为遗漏过孔的坐标；和/或：

若所述重合坐标区域中第一局部区域覆盖现有过孔，第二局部区域未覆盖现有过孔，则确定所述第二局部区域对应的过孔坐标中为缺失过孔的坐标。

8.一种集成电路版图的设计方法，其特征在于，包括：在设计完成所述当前金属网络的集成电路版图之后，实施权利要求1至6任一项所述的检测方法。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器与存储器，所述处理器连接所述存储器；

所述存储器，用于存储代码和相关数据；

所述处理器，用于执行所述存储器中的代码用以实现权利要求1至6任一项所述的检测方法。